[发明专利]一种芯片测试用手动调节机械臂

权利要求书

1.一种芯片测试用手动调节机械臂，包括依次转动连接的第一段臂（1）、第二段臂（2）和第三段臂（3），其特征在于：所述第一段臂（1）的远离第二段臂（2）端设有导杆连接块（4），两个所述导杆连接块（4）设置于第一段臂（1）的上下两侧，所述第一段臂（1）与两个导杆连接块（4）之间连接有竖直设置的第一连接轴（6），所述第一段臂（1）和第二段臂（2）之间连接有竖直设置的第二连接轴（7），所述第二段臂（2）和第三段臂（3）之间连接有竖直设置的第三连接轴（8），所述第三段臂（3）的远离第二段臂（2）端转动连接有抱臂固定盘（5），所述第一段臂（1）的上方设有固定盘（9），所述固定盘（9）固定于导杆连接块（4）的下方，所述固定盘（9）上设有调节孔（10），所述第一段臂（1）上对应调节孔（10）的位置设有第一锁紧孔（11），所述第一锁紧孔（11）连接有第一锁紧把手（12），所述第二连接轴（7）和第三连接轴（8）上均套设有一个锁紧块（13），所述锁紧块（13）上设有第二锁紧把手（17），所述第三段臂（3）上连接有固定插销（22），所述抱臂固定盘（5）上沿其圆周方向设有多个配合固定插销（22）的定位孔（23）。

2.根据权利要求1所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述调节孔（10）为圆弧形的腰形孔。

3.根据权利要求1所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述锁紧块（13）上开设有上下贯穿的固定孔（14），所述固定孔（14）连接有锁紧槽（15），所述锁紧槽（15）贯穿锁紧块（13）。

4.根据权利要求3所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述锁紧块（13）上设有第二锁紧孔（16），所述第二锁紧孔（16）垂直于锁紧槽（15）且贯穿锁紧块（13）。

5.根据权利要求4所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述第二锁紧孔（16）为螺纹孔，其与第二锁紧把手（17）螺接。

6.根据权利要求3所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述固定孔（14）的孔壁上设有上下贯穿的多个切割槽（18），每个所述切割槽（18）的远离固定孔（14）端均设有切割孔（19）。

7.根据权利要求1所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：两个所述锁紧块（13）分别固定于第一段臂（1）和第二段臂（2）上，所述锁紧块（13）上设有多个第一连接孔（20）。

8.根据权利要求1所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述第三段臂（3）上设有固定块（21），所述固定插销（22）贯穿固定块（21）且与固定块（21）螺接，所述固定块（21）上设有第二连接孔（24）。

9.根据权利要求1所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述第一锁紧孔（11）为螺纹孔，其与第一锁紧把手（12）螺接。

10.根据权利要求1所述的一种芯片测试用手动调节机械臂，其特征在于：所述导杆连接块（4）活动连接有机身导杆，所述抱臂固定盘（5）连接有测试头。