[发明专利]晶圆的热处理装置有效
申请号: | 202210913974.3 | 申请日: | 2022-08-01 |
公开(公告)号: | CN115346894B | 公开(公告)日: | 2023-10-24 |
发明(设计)人: | 李海卫;冀建民;刘春峰;么曼实 | 申请(专利权)人: | 北京屹唐半导体科技股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01J37/32 |
代理公司: | 北京易光知识产权代理有限公司 11596 | 代理人: | 王一;武晨燕 |
地址: | 100176 北京市大兴*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 热处理 装置 | ||
本公开提供了一种晶圆的热处理装置。其中,晶圆的热处理装置包括:腔体、托盘、微波发生器、泵体和加热部。腔体具有沿水平方向相对设置的第一侧壁和第二侧壁,第一侧壁开设第一开口,第二侧壁开设第二开口,第一开口与第二开口沿水平方向相对设置且与腔体内部的腔室连通;托盘设置在腔室内;微波发生器与第一开口连接,用于向腔室输送等离子体;泵体与第二开口连接;加热部与腔体连接,用于加热晶圆。根据本公开的技术,通过微波发生器向腔室内输送等离子体、同时泵体抽取腔室内的等离子体,实现在晶圆的上表面形成沿水平方向流动的气流,与此同时结合加热部对晶圆的加热,可以保证晶圆的热处理工艺的质量和稳定性。
技术领域
本公开涉及半导体设备技术领域,尤其涉及一种晶圆的热处理装置。
背景技术
快速热处理(RTP,rapid thermal processing)是晶圆加工时通常会用到的一种加工工艺。快速热处理是一种升温速度非常快的,保温时间很短的热处理方式。升温速率能达到10~100摄氏度每秒,可以用于离子注入后的杂质快速激活、快速热氧化等。此方法能大量节省热处理时间和降低生产成本,是热处理上的一次革新。
发明内容
根据本公开的一方面,提供了一种晶圆的热处理装置,包括:
腔体,具有沿水平方向相对设置的第一侧壁和第二侧壁,第一侧壁上开设有第一开口,第二侧壁上开设有第二开口,第一开口与第二开口沿水平方向相对设置且与腔体内部的腔室连通;
托盘,可转动地设置在腔室内,托盘的第一端面用于支撑晶圆;
微波发生器,与第一开口连接,用于向腔室输送等离子体;
泵体,与第二开口连接;
加热部,与腔体连接,用于加热晶圆。
在一种实施方式中,第一侧壁上还开设有至少一个第三开口,第三开口与第二开口沿水平方向相对设置,第三开口与第二输送管连接,用于向腔室输送气体。
在一种实施方式中,晶圆的热处理装置还包括:
第一匀流板,设置在腔室内靠近第一开口的位置处,第一匀流板的端面与第一开口相对,第一匀流板的端面上开设有多个导流孔。
在一种实施方式中,加热部包括第一加热灯和第二加热灯,腔体具有沿竖直方向相对设置的顶面和底面,第一加热灯与顶面连接,第二加热灯与底面连接;托盘位于第一加热灯和第二加热灯之间。
在一种实施方式中,第一加热灯朝向腔室内部的一侧端面上设置有第一石英板,第二加热灯朝向腔室内部的一侧端面上设置有第二石英板。
在一种实施方式中,加热部还包括第三加热灯,环设在腔体的侧壁上。
在一种实施方式中,晶圆的热处理装置还包括:
气浮旋转机构,设置在腔室内,且与托盘的第二端面对应设置;气浮旋转机构具有多个喷嘴,多个喷嘴与供气管路连接,多个喷嘴用于驱动托盘悬浮并旋转。
在一种实施方式中,晶圆的热处理装置还包括:
加热环,设置在托盘的第一端面的上方,且加热环位于第一开口和第二开口之间形成的气流通道中,加热环用于加热晶圆的外缘。
在一种实施方式中,晶圆的热处理装置还包括:
第二匀流板,设置在第一石英板和托盘的第一端面之间,第二匀流板的端面上开设有多个导流孔。
在一种实施方式中,晶圆的热处理装置还包括:
传感器,与腔体连接,传感器的检测端延伸至腔室;和/或,泵体为真空泵。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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