[发明专利]一种拼接式相机自适应辐射一致性校正方法及装置

说明书

一种拼接式相机自适应辐射一致性校正方法，拼接式相机拍摄的一景影像包括多个探测器获取的图像单元，校正方法包括：选取参考图像单元；获取所有两两相邻图像单元间的约束区域，并确定约束区域的统计参数；采用线性校正模型，线性校正模型中含有校正参数，根据两两相邻图像单元间的约束条件，建立含有校正参数的约束模型；基于参考图像单元，利用所述统计参数，求解得到校正参数；利用校正参数，对多个探测器获取的图像单元进行校正。

技术领域

本发明涉及光学遥感图像信息处理技术领域及装置，特别是一种拼接式相机自适应辐射一致性校正方法。

背景技术

单一式相机受制于探测器制造水平，难以大幅提升幅面，通过多镜头，多探测器组合构造的拼接式相机是实现大幅面成像的重要技术路线。然而，多镜头多探测器拼接式相机中，各块探测器受制于镜头光照、探测器数字后背响应差异等因素影响，拼接图像中不可避免的出现以探测器为单元的明暗相间的“块状效应”。传统的使用实验室定标的方法可以抑制这一亮度不一致现象。但是实验室定标方法需要大口径积分球等高端仪器设备，过程繁琐成本较高。获取的定标参数仅在航摄相机实际飞行获取图片时的目标亮度、积分时间、增益参数等与实验室定标一致时才能达到最优的效果。而实际飞行环境地物亮度多变，拍摄参数也应相应发生变化，有限的定标条件与多变的实际情况构成矛盾，制约了亮度一致性效果的进一步提升。

发明内容

本发明要解决的技术问题是：克服现有技术的不足，解决了一景影像中多图像单元间的有效拼接问题。

本发明目的通过以下技术方案予以实现：

一种拼接式相机自适应辐射一致性校正方法，拼接式相机拍摄的一景影像包括多个探测器获取的图像单元，校正方法包括：

选取参考图像单元；

获取所有两两相邻图像单元间的约束区域，并确定约束区域的统计参数；

采用线性校正模型，线性校正模型中含有校正参数，根据两两相邻图像单元间的约束条件，建立含有校正参数的约束模型；基于参考图像单元，利用所述统计参数，求解得到校正参数；

利用校正参数，对多个探测器获取的图像单元进行校正。

一种拼接式相机自适应辐射一致性校正参数确定方法，拼接式相机拍摄的一景影像包括多个探测器获取的图像单元，校正参数确定方法包括：

选取参考图像单元；

获取所有两两相邻图像单元间的约束区域，并确定约束区域的统计参数；

采用线性校正模型，线性校正模型中含有校正参数，根据两两相邻图像单元间的约束条件，建立含有校正参数的约束模型；基于参考图像单元，利用所述统计参数，求解得到校正参数。

一种拼接式相机自适应辐射一致性校正装置，包括：

获取模块，用于获取拼接式相机拍摄的一景影像，该影像包括多个探测器获取的图像单元；

选取模块，用于选取参考图像单元；

第一处理模块，用于获取所有两两相邻图像单元间的约束区域，并确定约束区域的统计参数；

第二处理模块，采用线性校正模型，线性校正模型中含有校正参数，根据两两相邻图像单元间的约束条件，建立含有校正参数的约束模型；基于参考图像单元，利用所述统计参数，求解得到校正参数；

校正模块，利用校正参数，对多个探测器获取的图像单元进行校正。

本发明相比于现有技术具有如下有益效果：

(1)常规辐射校正方法针对单镜头单探测器研制，对于多镜头多探测器相机应用效果受到制约，本发明方法适用于多镜头多探测器相机；