[发明专利]一种针对智能反射面的测试系统及测试方法

说明书

本发明公开了一种针对智能反射面的测试系统及测试方法，其中系统包括：测试台，用于放置待检测的智能反射面；多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。本发明通过移动电磁探头的位置，实现对智能反射面球面的扫描，可用于智能反射面的测试。本发明可广泛应用于微波通信技术领域。

技术领域

本发明涉及微波通信技术领域，尤其涉及一种针对智能反射面的测试系统及测试方法。

背景技术

从1G到5G，无线信道往往被认为是不可调控的一部分。而近年来，随着超材料技术的快速发展，一种新的概念-智能超表面技术(Reconfigurable Intelligent Surface,RIS)被提出，它能利用软件等方法通过控制反射面上大量无源反射元的反射特性(改变入射信号的相位、频率、幅值以及极化方向等)主动修改无线信道，为进一步提高无线链路的性能提供了新的自由度。正因为智能超表面技术能调控信道这一特性，它成为了未来6G中颇有前景的一项技术之一。

智能反射面以其能够调控信道的能力，使得反射波能够发射到以智能反射面以起点的自由空间的任意方向任意角度(包括入射波的方向)，然而传统的测试方法和装置只能测试同一平面固定角度的入射反射情况。因此，现有的测试设备无法对智能反射面进行测试，现有技术尚缺少一种针对智能反射面的测试系统。

发明内容

为至少一定程度上解决现有技术中存在的技术问题之一，本发明的目的在于提供一种针对智能反射面的测试系统及测试方法。

本发明所采用的技术方案是：

一种针对智能反射面的测试系统，包括：

测试台，用于放置待检测的智能反射面；

多个电磁探头(至少两个)，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；

测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；

信号发射器，用于通过电磁探头将射频信号发射至待检测的智能反射面上；

信号接收器，用于通过电磁探头接收待检测的智能反射面反射的射频信号；

智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号(信道)质量参数，实现对智能反射面性能的精确完整表征。

进一步地，所述测试支架包括圆形滑轨、第一弓形支架以及第二弓形支架；

所述圆形滑轨所在的平面与所述测试台的台面所在的平面重合，所述圆形滑轨的圆心与所述中心点重合；

所述第一弓形支架固定在所述圆形滑轨上，所述第一弓形支架与所述中心点处于同一个平面内，且该平面与所述圆形滑轨所在的平面垂直；

所述第二弓形支架通过移动装置安装在所述圆形滑轨上，所述第二弓形支架与所述中心点处于同一个平面内，且该平面与所述圆形滑轨所在的平面垂直；所述数据处理模块通过控制移动装置，移动第二弓形支架的位置；

所述电磁探头安装所述第一弓形支架上和所述第二弓形支架上。

进一步地，安装在第一弓形支架上的电磁探头与安装在所述第二弓形支架上的电磁探头的数量相等，且电磁探头等距地安装在弓形支架上。

进一步地，所述测试支架包括第一弧形支架和第二弧形支架；