[发明专利]一种针对智能反射面的测试系统及测试方法

权利要求书

1.一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，包括：

测试台，用于放置待检测的智能反射面；

多个电磁探头，所述电磁探头的口径指向中心点，所述中心点为测试台的台面的中心；

测试支架，所述多个电磁探头安装在所述测试支架上；

信号发射器，用于通过电磁探头将射频信号发射至待检测的智能反射面上；

信号接收器，用于通过电磁探头接收待检测的智能反射面反射的射频信号；

数据处理模块，用于控制射频信号从不同角度射入待检测的智能反射面；控制待检测的智能反射面的反射参数，控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。

2.根据权利要求1所述的一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，所述测试支架包括圆形滑轨、第一弓形支架以及第二弓形支架；

所述圆形滑轨所在的平面与所述测试台的台面所在的平面重合，所述圆形滑轨的圆心与所述中心点重合；

所述第一弓形支架固定在所述圆形滑轨上，所述第一弓形支架与所述中心点处于同一个平面内，且该平面与所述圆形滑轨所在的平面垂直；

所述第二弓形支架通过移动装置安装在所述圆形滑轨上，所述第二弓形支架与所述中心点处于同一个平面内，且该平面与所述圆形滑轨所在的平面垂直；所述数据处理模块通过控制移动装置，移动第二弓形支架的位置；

所述电磁探头安装所述第一弓形支架上和所述第二弓形支架上。

3.根据权利要求1所述的一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，所述测试支架包括第一弧形支架和第二弧形支架；

所述第一弧形支架所在圆的圆心与所述中心点重合，且第一弧形支架所在的平面与所述测试台的台面所在的平面垂直；

所述第二弧形支架所在圆的圆心与所述中心点重合，且第二弧形支架所在的平面与所述测试台的台面所在的平面垂直；

所述第一弧形支架的位置固定不动，所述第二弧形支架可围绕所述测试台的台面所在的平面进行移动；

所述第一弧形支架的弧度与所述第一弧形支架的弧度均大于90°，所述电磁探头安装所述第一弧形支架上和所述第二弧形支架上。

4.根据权利要求1所述的一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，所述测试支架为半圆，所述测试支架的圆心与所述中心点重合，所述测试支架设有两个电磁探头，所述电磁探头可在所述测试支架上移动；

所述测试台为二维测试台，所述二维测试台的台面可绕着轴线旋转，且可绕着所述测试支架所在平面翻转，所述台面的旋转角度和翻转角度由数据处理模块控制；其中，所述轴线为经过中心点，且垂直于所述测试支架所在平面的直线。

5.根据权利要求1所述的一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，所述电磁探头为双极化探头；或，

所有的电磁探头与所述中心点的距离相等。

6.根据权利要求1所述的一种针对智能反射面的测试系统，其特征在于，所述测试系统还包括暗室，所述测试台和测试支架设置在暗室内；或，

所述测试支架的表面覆盖有吸波材料。

7.一种应用于权利要求1所述的一种针对智能反射面的测试系统的测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

A1、将待测的智能反射面放置测试台上的中心点处；

A2、选择预设角度的电磁探头发射射频信号；

A3、控制待检测的智能反射面的反射参数，以及控制用于接收反射的射频信号的电磁探头的位置；

A4、电磁探头接收到射频信号后，记录射频信号，并返回步骤A2更新发射角度，直到遍历完所有预设的角度；

A5、提取并分析待检测的智能反射面在不同状态、多个角度下的电磁以及信号质量参数，实现对智能反射面性能的完整表征。