[发明专利]一种有机微腔激子极化激元发光二极管及其制备方法在审
| 申请号: | 202210790975.3 | 申请日: | 2022-07-05 |
| 公开(公告)号: | CN115148936A | 公开(公告)日: | 2022-10-04 |
| 发明(设计)人: | 廖清;德健博;尹璠;付红兵 | 申请(专利权)人: | 首都师范大学 |
| 主分类号: | H01L51/52 | 分类号: | H01L51/52;H01L51/56 |
| 代理公司: | 北京冠榆知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11666 | 代理人: | 孟培 |
| 地址: | 100048 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 有机 激子 极化 发光二极管 及其 制备 方法 | ||
1.一种有机微腔激子极化激元发光二极管,其特征在于,包括顶部反射镜、底部反射镜和发光层;发光层位于顶部反射镜和底部反射镜之间,顶部反射镜的厚度小于底部反射镜的厚度。
2.根据权利要求1所述的有机微腔激子极化激元发光二极管,其特征在于,还包括基底层、空穴注入层、电子注入层和阴极膜层;底部反射镜位于基底层上,空穴注入层、发光层、电子注入层和阴极膜层位于底部反射镜和顶部反射镜之间;自底部反射镜至顶部反射镜的方向依次为空穴注入层、发光层、电子注入层和阴极膜层。
3.根据权利要求2所述的有机微腔激子极化激元发光二极管,其特征在于,发光层为利用单一组分的有机材料制备的有机单晶层;有机材料的化学结构式为:
R1选自以下基团中的任一一种:
4.根据权利要求2所述的有机微腔激子极化激元发光二极管,其特征在于,基底层为表面粗糙度小于或等于0.5nm的硅片;底部反射镜为厚度在60~150nm之间的银膜镀层;空穴注入层为厚度在3~10nm之间的三氧化钼镀层;发光层的厚度为200~600nm;电子注入层为厚度在1~10nm之间的氟化铯镀层;阴极层为厚度在2~15nm之间钙膜镀层;顶部反射镜为厚度在20~40nm之间的银膜镀层。
5.一种有机微腔激子极化激元发光二极管的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤A:对基底层进行前处理;
步骤B:使用高真空蒸镀机或磁控溅射仪在基底层上制备底部反射镜;
步骤C:使用高真空蒸镀机或磁控溅射仪在底部反射镜上制备空穴注入层;
步骤D:采用物理气相传输法制备发光层,并将发光层转移到空穴注入层上;
步骤E:使用高真空蒸镀机或磁控溅射仪在发光层上制备电子注入层;
步骤F:使用高真空蒸镀机或磁控溅射仪在电子注入层上制备阴极膜层;
步骤G:使用高真空蒸镀机或磁控溅射仪在阴极膜层上制备顶部反射镜;顶部反射镜的厚度小于底部反射镜的厚度。
6.根据权利要求5所述的有机微腔激子极化激元发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤A中,基底层为硅片,前处理后,硅片的水滴接触角小于或等于30°;步骤B中,底部反射镜为厚度在60~150nm之间的银膜镀层,底部反射镜的平均粗糙度小于或等于1.5nm;步骤C中,空穴注入层为厚度在3~10nm之间的三氧化钼镀层,三氧化钼镀层的平均粗糙度小于或等于1nm;步骤D中,发光层的厚度为20~1000nm;步骤E中,电子注入层为厚度在1~10nm之间的氟化铯镀层,氟化铯镀层的平均粗糙度小于或等于1nm;步骤F中,阴极层为厚度在2~15nm之间钙膜镀层,钙膜镀层的平均粗糙度小于或等于1nm;步骤G中,顶部反射镜为厚度在20~40nm之间的银膜镀层,顶部反射镜的平均粗糙度小于或等于1.5nm;
发光层为利用单一组分的有机材料制备的有机单晶层;有机材料的化学结构式为:
R1选自以下基团中的任一一种:
7.根据权利要求6所述的有机微腔激子极化激元发光二极管的制备方法,其特征在于,步骤A中,基底层的前处理方法为:
步骤(A-1):先将硅片置于食人鱼溶液中,加热至沸腾后进行煮洗;
步骤(A-2):煮洗结束后用去离子水将硅片冲洗干净,再加入异丙醇进行超声清洗;
步骤(A-3):超声清洗结束后用氮气吹干硅片;然后将吹干的硅片置于等离子清洗机中清洗;
步骤(A-4):清洗完成后将硅片置于真空干燥箱中烘干即可;
步骤B中,制备底部反射镜时所用的原料为金属银,且金属银的纯度大于或等于99.999wt%;步骤C中,制备三氧化钼镀层时所用的三氧化钼的纯度大于或等于99.99wt%;步骤E中,制备氟化铯镀层时所用的氟化铯的纯度大于或等于99.99wt%;步骤F中,制备钙膜镀层时所用的原料为金属钙,金属钙的纯度大于或等于99.99wt%;步骤B中,制备顶部反射镜时所用的原料为金属银,且金属银的纯度大于或等于99.999wt%。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择





