[发明专利]一种卷径计算方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本申请涉及一种卷径计算方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据；根据所述收放长度数据和所述转动角度数据，计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据；对所述初始卷径数据进行零相位滤波，得到滤波处理后的中间卷径数据；对所述中间卷径数据进行拟合，得到拟合后的目标卷径数据。如此，可以大幅度减小实时卷径的波动，显著提高了卷径的精度与平滑性，保证了高速卷绕的卷绕过程平稳性和张力稳定性，提高了电芯的品质。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，尤其涉及卷径计算方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

在锂电卷绕机正常卷绕过程中，收卷卷径逐渐增大，放卷卷径逐渐减小，收、放卷卷径的测量精度会影响到收放卷配合的稳定性和跟随性能。随着技术的不断发展，对电芯的品质和生产效率的要求会越来越高，这就对锂电卷绕机的技术性能指标提出了更高的要求，比如高速卷绕过程的平稳性和张力稳定性等。而提高收、放卷卷径和膜厚的计算精度对提高高速卷绕过程中的运行品质有很大的改善。因此，研究膜厚与卷径的高精度智能测算系统有着非常重要的意义。

发明内容

本申请提供一种卷径计算方法、装置、电子设备及存储介质，以解决锂电高速卷绕过程中，卷径与膜厚计算不精确以及数据波动影响卷绕过程平稳性和张力稳定性的问题。本申请的技术方案如下：

根据本申请实施例的第一方面，提供一种卷径计算方法，所述方法包括：获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据；根据所述收放长度数据和所述转动角度数据，计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据；对所述初始卷径数据进行零相位滤波，得到滤波处理后的中间卷径数据；对所述中间卷径数据进行拟合，得到拟合后的目标卷径数据。

进一步地，所述获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据包括：

确定目标采样频率；

以所述目标采样频率获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据。

进一步地，所述根据所述收放长度数据和所述转动角度数据，计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据包括：

计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据D_Δf，

其中，ΔL为单位采样间隔内的收放长度数据，Δθ为单位采样间隔内的转动角度数据，π为圆周率。

进一步地，所述对所述初始卷径数据进行零相位滤波，得到滤波处理后的中间卷径数据包括：获取低通滤波器，所述低通位滤波器具有初始参数；对所述初始卷径数据进行首尾扩展，利用所述低通滤波器对首尾扩展后的初始卷径数据进行滤波，得到正向滤波数据；将所述正向滤波数据进行反转，利用所述低通滤波器对反转后的正向滤波数据进行滤波处理，得到反向滤波数据；将所述反向滤波数据进行反转，并删除反转后的反向滤波数据的首尾扩展部分，得到滤波处理后的中间卷径数据。

进一步地，所述对所述中间卷径数据进行拟合，得到拟合后的目标卷径数据包括：获取卷径拟合公式，所述卷径拟合公式根据卷径的变化规律构建而成；利用所述卷径拟合公式对所述中间卷径数据进行最小二乘法拟合，求解所述卷径拟合公式中的待定参数；根据拟合后的所述卷径拟合公式，得出卷轴在不同转动角度下的目标卷径数据。

进一步地，拟合后的所述卷径拟合公式为Y＝kX+b，

其中，参数k用于表征单位采样间隔对应的卷径变化斜率，参数b用于表征拟合后的初始卷径，X为当前转动角度，Y为当前转动角度下的目标卷径数据。

进一步地，所述方法还包括：获取拟合后的所述卷径拟合公式中的参数k；基于所述参数k与膜厚系数的乘积，确定实时膜厚数据。