[发明专利]一种卷径计算方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种卷径计算方法，其特征在于，所述方法包括：

获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据；

根据所述收放长度数据和所述转动角度数据，计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据；

对所述初始卷径数据进行零相位滤波，得到滤波处理后的中间卷径数据；

对所述中间卷径数据进行拟合，得到拟合后的目标卷径数据。

2.根据权利要求1所述的卷径计算方法，其特征在于，所述获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据包括：

确定目标采样频率；

以所述目标采样频率获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据。

3.根据权利要求1所述的卷径计算方法，其特征在于，所述根据所述收放长度数据和所述转动角度数据，计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据包括：

计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据D_Δf，

其中，ΔL为单位采样间隔内的收放长度数据，Δθ为单位采样间隔内的转动角度数据，π为圆周率。

4.根据权利要求1所述的卷径计算方法，其特征在于，所述对所述初始卷径数据进行零相位滤波，得到滤波处理后的中间卷径数据包括：

获取低通滤波器，所述低通位滤波器具有初始参数；

对所述初始卷径数据进行首尾扩展，利用所述低通滤波器对首尾扩展后的初始卷径数据进行滤波，得到正向滤波数据；

将所述正向滤波数据进行反转，利用所述低通滤波器对反转后的正向滤波数据进行滤波处理，得到反向滤波数据；

将所述反向滤波数据进行反转，并删除反转后的反向滤波数据的首尾扩展部分，得到滤波处理后的中间卷径数据。

5.根据权利要求1所述的卷径计算方法，其特征在于，所述对所述中间卷径数据进行拟合，得到拟合后的目标卷径数据包括：

获取卷径拟合公式，所述卷径拟合公式根据卷径的变化规律构建而成；

利用所述卷径拟合公式对所述中间卷径数据进行最小二乘法拟合，求解所述卷径拟合公式中的待定参数；

根据拟合后的所述卷径拟合公式，得出卷轴在不同转动角度下的目标卷径数据。

6.根据权利要求5所述的卷径计算方法，其特征在于，拟合后的所述卷径拟合公式为Y＝kX+b，

其中，参数k用于表征单位采样间隔对应的卷径变化斜率，参数b用于表征拟合后的初始卷径，X为当前转动角度，Y为当前转动角度下的目标卷径数据。

7.根据权利要求6所述的卷径计算方法，其特征在于，所述方法还包括：

获取拟合后的所述卷径拟合公式中的参数k；

基于所述参数k与膜厚系数的乘积，确定实时膜厚数据。

8.一种卷径计算装置，其特征在于，所述装置包括：

数据获取模块，用于获取料卷在单位采样间隔内的收放长度数据、以及卷轴在单位采样间隔内的转动角度数据；

初始卷径数据确定模块，用于根据所述收放长度数据和所述转动角度数据，计算所述卷轴在单位采样间隔内的初始卷径数据；

中间卷径数据确定模块，用于对所述初始卷径数据进行零相位滤波，得到滤波处理后的中间卷径数据；

目标卷径数据确定模块，用于对所述中间卷径数据进行拟合，得到拟合后的目标卷径数据。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：

处理器；

用于存储所述处理器可执行指令的存储器；

其中，所述处理器被配置为执行所述指令，以实现如权利要求1至7中任一项所述的卷径计算方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，当所述存储介质中的指令由电子设备的处理器执行时，使得电子设备能够执行如权利要求1至7中任一项所述的卷径计算方法。