[发明专利]一种高效的集成电路芯片修调测试电路及测试方法

权利要求书

1.一种高效的集成电路芯片修调测试电路，其特征在于，所述电路包括原始参数电阻以及多个修调电阻；

所述原始参数电阻依次与多个所述修调电阻串联后接地，以便处于初始状态的所述多个修调电阻与所述原始参数电阻所组成结构的参数的初始值，与设计目标值之间的误差小于第一阈值；所述设计目标值是按照TT工艺角参数进行设计的；

针对每个所述修调电阻，所述修调电阻的第一端与所述修调电阻对应的修调开关管的漏极连接；所述修调电阻的第二端与所述修调电阻对应的修调开关管的源极连接；

所述修调电阻对应的控制电路与所述修调电阻对应的修调开关管的栅极连接，以控制所述修调开关管的导通或关断；

所述控制电路包括熔丝电阻、控制电路电阻、逻辑电路、熔丝开关管以及反相模块；

输入电压依次通过所述熔丝电阻连接至所述熔丝开关管的漏极；

所述熔丝开关管的源极接地，以当所述熔丝开关管的栅极接收到导通信号时，将所述熔丝电阻接地；

所述输入电压还通过所述熔丝电阻连接至所述逻辑电路的第一端；

所述输入电压还通过所述控制电路电阻连接至所述逻辑电路的第二端；

所述逻辑电路的输出端连接至反相模块的输入端；所述反相模块的输出端与所述修调开关管的栅极连接；

所述逻辑电路用于比较所述熔丝电阻的阻值与所述控制电路电阻的阻值，并通过逻辑电路的输出端输出与比较结果对应的控制信号；

所述熔丝电阻在未熔断时的阻值小于所述控制电路电阻的阻值；所述熔丝电阻在熔断后的阻值大于所述控制电路电阻的阻值；

所述反相模块包括第一反相器；

所述逻辑电路的输出端连接至所述第一反相器的输入端；所述第一反相器的输出端与所述修调开关管的栅极连接；

所述第一反相器的电源正端接入所述输入电压；所述第一反相器的电源负端接地；

所述反相模块包括第二反相器与第三反相器；

所述逻辑电路的输出端连接至所述第二反相器的输入端；所述第二反相器的输出端与所述第三反相器的输入端连接；所述第三反相器的输出端与所述修调开关管的栅极连接；

所述第二反相器的电源正端接入所述输入电压；所述第二反相器的电源负端接地；

所述第三反相器的电源正端接入所述输入电压；所述第三反相器的电源负端接地。

2.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，所述修调电阻的第一端分别与所述修调电阻对应的指定个数的修调开关管的漏极连接；所述修调电阻的第二端分别与所述修调电阻对应的指定个数的修调开关管的源极连接；

所述指定个数与所述修调电阻的阻值对应。

3.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，当所述逻辑电路检测到所述熔丝电阻的阻值小于所述控制电路电阻的阻值时，所述控制信号为高电平；

当所述逻辑电路检测到所述熔丝电阻的阻值大于所述控制电路电阻的阻值时，所述控制信号为低电平。

4.根据权利要求1所述的电路，其特征在于，当所述逻辑电路检测到所述熔丝电阻的阻值小于所述控制电路电阻的阻值时，所述控制信号为低电平；

当所述逻辑电路检测到所述熔丝电阻的阻值大于所述控制电路电阻的阻值时，所述控制信号为高电平。