[发明专利]法布里-珀罗标准具表面损耗和介质损耗的估算方法在审

专利信息
申请号: 202210654968.0 申请日: 2022-06-10
公开(公告)号: CN115060463A 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 张娜娜;郭永瑞;陈奕宽;袁泰;马勇;潘武;陈珊珊;杨桓 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 伍旭伟
地址: 400000 重*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 法布里 标准 表面 损耗 介质 估算 方法
【说明书】:

发明公开了一种法布里‑珀罗标准具表面损耗和介质损耗的估算方法,在对法布里‑珀罗标准具的表面损耗和介质损耗进行确定时,考虑了无介质和有介质填充时损耗对法布里‑珀罗标准具透过率峰值大小的影响,建立无介质填充时的法布里‑珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗之间满足的第一函数关系式和有介质填充的法布里‑珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗及介质损耗之间满足的第二函数关系式;通过测量无介质填充的法布里‑珀罗标准具的透过率峰值确定表面损耗的大小;通过测量有介质填充的法布里‑珀罗标准具的透过率峰值大小进一步确定介质损耗的大小;适用于多种介质填充的法布里‑珀罗标准具;测试过程简单,有利于法布里‑珀罗标准具的损耗的估算。

技术领域

本发明涉及光学技术领域,具体涉及一种法布里-珀罗标准具表面损耗和介质损耗的估算方法。

背景技术

法布里-珀罗标准具作为一种重要的器件,被广泛应用于光学滤波、测风激光雷达、高光谱激光雷达、测温激光雷达、长度测量以及超精细光谱结构等领域的研究,但是在使用法布里-珀罗标准具时,一般都认为法布里-珀罗标准具是理想的标准具,而标准具的损耗会直接影响其透射性能以及精细度的大小,目前现有技术尚未提出一种法布里-珀罗标准具表面损耗和介质损耗的估算方法。在实际实验当中,由于无法对法布里-珀罗标准具的表面损耗和介质损耗进行估算,故将实验损耗归结于其他实验装置。对法布里-珀罗标准具的表面损耗和介质损耗对标准具的表面及介质损耗进行估算有助于高性能法布里-珀罗标准具的制备。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是在使用法布里-珀罗标准具进行测量时,无法获得法布里-珀罗标准具在测量过程中的表面损耗和介质损耗,导致认为测量结果理想,目的在于提供一种法布里-珀罗标准具表面损耗和介质损耗的估算方法,通过考虑损耗对标准具透过率峰值大小的影响,建立无介质填充时的法布里-珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗之间满足的第一函数关系式对表面损耗进行确定,建立有介质填充的法布里-珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗及介质损耗之间满足的第二函数关系式对介质损耗进行确定。

本发明通过下述技术方案实现:

一种法布里-珀罗标准具表面损耗和介质损耗的估算方法,包括以下具体步骤:

S10、获取法布里-珀罗标准具的透过率Tt,根据透过率Tt获取透过率峰值Tmax

S20、根据步骤S10获取的透过率Tt和透过率峰值Tmax建立无介质填充时的法布里-珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗之间满足的第一函数关系式;

S30、根据第一函数关系式,建立有介质填充的法布里-珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗及介质损耗之间满足的第二函数关系式;

S40、获取无介质填充的标准具的透过率峰值Tmax1的实验测量值,代入第一函数关系式中计算得到标准具的表面损耗γ;

S50、获取有介质填充的标准具的透过率峰值Tmax2的实验测量值和步骤S40中计算得到的标准具的表面损耗γ,代入第二函数关系式中计算得到标准具的介质损耗α。

本发明在对法布里-珀罗标准具的表面损耗和介质损耗进行确定时,考虑了无介质和有介质填充时损耗对法布里-珀罗标准具透过率峰值大小的影响,在对法布里-珀罗标准具的表面损耗和介质损耗进行确定时,建立了无介质填充时的法布里-珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗之间满足的第一函数关系式;在对法布里-珀罗标准具的表面损耗和介质损耗进行确定时,建立了有介质填充的法布里-珀罗标准具的透过率峰值与表面损耗及介质损耗之间满足的第二函数关系式;通过测量无介质填充的法布里-珀罗标准具的透过率峰值确定表面损耗的大小;通过测量有介质填充的法布里-珀罗标准具的透过率峰值大小进一步确定介质损耗的大小;本方法适用于多种介质填充的法布里-珀罗标准具;对损耗的估算过程仅需对透过率进行测量,测试过程简单。

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