[发明专利]一种介质超表面型集成式光谱图像传感器在审

专利信息
申请号: 202210643556.7 申请日: 2022-06-08
公开(公告)号: CN115060365A 公开(公告)日: 2022-09-16
发明(设计)人: 吴志鹏;王琦龙 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 唐少群
地址: 211189 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 介质 表面 集成 光谱 图像传感器
【说明书】:

发明公开了一种介质超表面型集成式光谱图像传感器,包括:探测端口和数据处理单元;探测端口包括一体化的光电探测器、存储器及信号处理电路组成;本发明通过利用分光探测一体化的光电探测器结构,使得每个图像传感单元具有不同的光谱响应特性,进而能够摒弃传统的滤波结构,进一步缩减器件的固有尺寸,实现高度集成化的光谱探测与成像一体化器件;本发明利用包括一体化的光电探测器、存储器及信号处理组件的堆叠结构,获得入射光的光谱数据,并结合数据处理单元,进一步实现高光谱图像的呈现;本发明利用分光探测一体化的光电探测器制备高灵敏的图像传感器,结合光谱重构算法处理,获得光谱图像。

技术领域

本发明涉及光谱图像传感器的技术领域,特别是涉及一种介质超表面型集成式光谱图像传感器。

背景技术

光谱成像是基于大量窄波段光谱信息的影像数据技术,用于探测目标的空间信息及光谱信息,可实现空间维与光谱维的融合。光谱成像具有波段数多、光谱分辨率高、波段窄、光谱范围广和图谱合一等特点。光谱成像系统主要利用分光系统实现光谱分离,再结合光电探测器阵列实现光谱探测及成像。现有传统高光谱成像系统中主要采用光栅、棱镜、滤色膜、声光可调谐滤波器等结构实现光谱分离。传统的光谱成像系统主要包括扫描系统(光信号接收),分光系统,探测器(光电转换)和信号处理系统(数据读出和传输)等主要部分。目标辐射经扫描系统或端口进入分光光学系统,利用滤波或色散元件将入射宽带辐射分解为一系列的窄带辐射信号,由探测器系统接收并输出对应电信号,经信号处理后实现高光谱图像。但传统光谱成像系统中分光与探测系统相互分离、系统组成复杂、系统成本高、维护难度大、难以集成且抗振性差等缺点,限制了其在便携式侦察器材、分布式野外勘测、无人载台、医疗光谱和消费电子等方面的应用,可见,光谱成像系统微小型化和集成化有重大应用需求。

因此,研发小型化/微型化芯片式集成光谱图像传感器,将满足更多应用场景的需求。

发明内容

有鉴于此,本发明的目的在于提供一种介质超表面型集成式光谱图像传感器,用以解决背景技术中提及的技术问题。

为了实现上述目的,本发明采用如下技术方案:

一种介质超表面型集成式光谱图像传感器,所述光谱图像传感器包括:

探测端口,其包括:至少一组一体化的光电探测器,以及与该一体化的光电探测器相适配的存储器和信号处理电路;其用于获取并传输入射光谱数据;

数据处理单元,其用于接收探测端口传输的入射光谱数据,并且处理该入射光谱数据,其中,该数据处理单元中配置有光谱重构算法,基于该光谱重构算法,获得光谱图像;

其中,所述一体化的光电探测器还包括多个光电调制单元,所述的光电调制单元,其具有的PIN结构或PN结构自身具有光谱波长敏感特性,无需额外设立其他滤色分光单元;所述的光谱波长敏感特性通过如下方法得到:

通过采用刻蚀技术以及掩膜技术改变所述PIN结构或PN结构的上表面层,,使其构建成具有介质超表面结构特征的光学薄膜层。

进一步的,所述的探测端口包括一组一体化的光电探测器,该一组一体化的光电探测器包括至少一个一体化的光电调制单元。

进一步的,所述的探测端口还包括微透镜系统,该微透镜系统采用透镜组件或者匀光组件。

进一步的,所述探测端口包括至少三组并列的一体化的光电探测器,该三组并列的一体化的光电探测器定义为光谱数据单元;

其中,通过改变该光谱数据单元中各个光电探测器,其介质超表面结构的参数,来得到具有不同响应的光电探测器;其中,该介质超表面结构的参数包括:超表面的尺寸、周期、材料及深度;

再通过该具有不同响应的光电探测器对入射光进行光谱测量,以得具有不同响应特性的光谱信号值。

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