[发明专利]一种介质超表面型集成式光谱图像传感器

权利要求书

1.一种介质超表面型集成式光谱图像传感器，其特征在于，所述光谱图像传感器包括：

探测端口，其包括：至少一组一体化的光电探测器，以及与该一体化的光电探测器相适配的存储器和信号处理电路；其用于获取并传输入射光谱数据；

数据处理单元，其用于接收探测端口传输的入射光谱数据，并且处理该入射光谱数据，其中，该数据处理单元中配置有光谱重构算法，基于该光谱重构算法，获得光谱图像；

其中，所述一体化的光电探测器还包括多个光电调制单元，所述的光电调制单元，其具有的PIN结构或PN结构自身具有光谱波长敏感特性，无需额外设立其他滤色分光单元；所述的光谱波长敏感特性通过如下方法得到：

通过采用刻蚀技术以及掩膜技术改变所述PIN结构或PN结构的上表面层，使其构建成具有介质超表面结构特征的光学薄膜层。

2.根据权利要求1所述的一种介质超表面型集成式光谱图像传感器，其特征在于，所述的探测端口包括一组一体化的光电探测器，该一组一体化的光电探测器包括至少一个一体化的光电调制单元。

3.根据权利要求2所述的一种介质超表面型集成式光谱图像传感器，其特征在于，所述的探测端口还包括微透镜系统，该微透镜系统采用透镜组件或者匀光组件。

4.根据权利要求1所述的一种介质超表面型集成式光谱图像传感器，其特征在于，所述探测端口包括至少三组并列的一体化的光电探测器，该并列的一体化的光电探测器定义为光谱数据单元；

其中，通过改变该光谱数据单元中各个光电探测器，其介质超表面结构的参数，来得到具有不同响应的光电探测器；其中，该介质超表面结构的参数包括：超表面的尺寸、周期、材料及深度；

再通过该具有不同响应的光电探测器对入射光进行光谱测量，以得具有不同响应特性的光谱信号值。

5.根据权利要求4所述的一种介质超表面型集成式光谱图像传感器，其特征在于，所述探测端口还包括：多个所述光谱数据单元构成的阵列图，行选通电路，列选通电路，模拟信号处理器，模数转换器，定时和控制单元以及数据传输口。