[发明专利]一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法

说明书

本发明公开了一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法，在该方法中，首先，确定真实地层中每层土壤层的厚度；然后，根据采样回次内土壤样品采集位置至该土壤层层顶的距离、采样回次内土壤样品所在土壤层的厚度以及真实地层中土壤样品所在土壤层的厚度，计算修正后采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的距离；最后，根据修正后采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的距离、采样回次数、采样回次长度、采样回次内土壤样品所在土壤层层顶到该采样回次起始位置的距离，计算修正后的土壤样品的采样深度。该方法能够更精确地定位土壤样品所在的地层。

技术领域

本发明涉及土壤计量技术领域，具体涉及一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法。

背景技术

在土壤污染状况调查工作中，普遍采用Geoprobe直推式土壤钻机进行土壤样品采集，可有效避免由采样施工造成的二次污染。但是由于直推式钻机采样管口径过小，一般为30-50mm，又由于土壤本身具有一定的可压缩性，不同地层压缩形变性能有所不同，采样管采样回次内会有一定的采空段，导致根据采样管判断的土壤样品的采样深度存在较大的误差。图1示出了直推式取土钻机采样管采样回次内采空段的示意图。如图1所示，每个采样回次内的土壤样品采样位置与该土壤样品所在采样回次顶部之间存在采空距离，即每个采样回次中都存在一段采空段，从而导致直接对采样管显示的土壤样品采样深度进行测量存在误差。

因此，需要一种土壤样品采样深度测量的修正方法，能够修正根据直推式取土钻机采样管对土壤采样深度测量的误差，以解决以上现有技术中存在的问题。

发明内容

鉴于上述问题，提出了本发明以便提供一种克服上述问题或者至少部分地解决上述问题的一种直推式取土钻机土壤样品采样深度的修正方法，在该方法中，首先，确定真实地层中每层土壤层的厚度；然后，根据采样回次内土壤样品采集位置至该土壤层层顶的距离、采样回次内土壤样品所在土壤层的厚度以及真实地层中土壤样品所在土壤层的厚度，计算采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离；最后，根据采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离、采样回次数、采样回次长度、采样回次内土壤样品所在土壤层层顶到该采样回次起始位置的距离，计算土壤样品的修正采样深度。

可选地，在上述方法中，采用螺纹钻孔螺旋钻进确定真实地层中每层土壤层的厚度。

可选地，在上述方法中，通过下述公式计算采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离：

其中，x_i为第i个采样回次内第i个土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的修正距离，m'_i为第i个采样回次内第i个土壤样品所在土壤层的厚度，m_i为真实地层中第i个土壤样品所在土壤层的厚度，x'_i为第i个采样回次内第i个土壤样品采集位置至该第i个土壤层层顶的距离。

可选地，通过下述公式计算后土壤样品的修正采样深度：

d_i＝(n-1)×L+S_i+x_i。

其中，d_i为第i个土壤样品的修正采样深度，n为采样回次数，L为第i个采样回次的长度，S_i为第i个采样回次内第i个土壤样品所在第i个土壤层层顶到该采样回次起始位置的距离，x_i为第i采样回次内第i个土壤样品采集位置到所在第i个土壤层层顶的修正距离。

可选地，直推式取土钻机包括多个采样管，一个采样管为一个采样回次，每个采样回次内的土壤样品采样位置与该土壤样品所在采样回次顶部之间存在采空距离。

根据本发明的方案，通过对每个采样回次内土壤样品采集位置到所在土壤层层顶的距离进行修正，计算每个土壤样品的修正采样深度，能够减少直接计算采样管内显示的土壤样品采样深度造成的采空误差，能够更精确的定位土壤样品所在的地层。