[发明专利]一种金属圆棒超声螺旋扫查检测的合成孔径成像技术在审
申请号: | 202210607491.0 | 申请日: | 2022-05-31 |
公开(公告)号: | CN115032277A | 公开(公告)日: | 2022-09-09 |
发明(设计)人: | 蔡桂喜;李建奎;李经明;张双楠;李振杰 | 申请(专利权)人: | 中国科学院金属研究所 |
主分类号: | G01N29/06 | 分类号: | G01N29/06;G01N29/265;G01N29/44 |
代理公司: | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人: | 张晨 |
地址: | 110015 辽*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 金属 超声 螺旋 检测 合成 孔径 成像 技术 | ||
1.一种极坐标系下的合成孔径pSAFT聚焦成像算法,其特征在于:用直径为D、焦距为F的水浸聚焦探头检测半径为R的金属圆棒,使焦点位于圆棒表面,以步距角对圆棒进行螺旋扫查,将探头的焦点设为SAFT重建过程的虚拟孔径,声束入射角和虚拟源的半孔径角分别为:
式中,C1表示水中声速,C2表示试样内声速;
当目标点位于心部时,会被所有扫查位置探头声场所覆盖,所有扫查角度下信号都将参与SFAT重建,即有效合成孔径弧度SAR为2π;
当目标点位于棒表面之下近表面区时,会被近场侧各扫查角下的声场所覆盖,也会被背侧各扫查角下的声场所覆盖,这两种情况的分界线用半径为r的虚线圆,即:
建立极坐标系,当目标点A(ρ,α)位于近场侧时,其SAR为γ:
当目标点A(ρ,α)位于背侧时,其SAR为γ′:
各扫查位置相对于目标点A(ρ,α)进行SAFT的信号延迟时间τki为:
极坐标系下的合成孔径pSAFT聚焦成像公式为:
式中:
2.一种金属圆棒超声螺旋扫查检测的合成孔径成像技术,其特征在于,具体步骤如下:
1)、对金属圆棒螺旋扫查一周后得到数据集根据探头参数和式(Ⅰ)计算工件表面的半孔径角θ′;并根据式(Ⅱ)计算能被所有位置声束覆盖的内接圆半径r;
式中,C1表示水中声速,C2表示试样内声速;
2)、对圆棒内所有点A(ρ,α)以成像分辨力Δx分别将按式(Ⅲ)进行合成聚焦计算,其中ρ∈0~R,α∈0~2π,从而得到数据矩阵Sp(i,j),i表示径向从0到R以Δx的计数,j表示周向从0到2π以的计数;
3)、将极坐标数据矩阵进行坐标变换以显示圆截面断层扫描图,坐标变换公式为:
3.按照权利要求2所述金属圆棒超声螺旋扫查检测的合成孔径成像技术,其特征在于:步骤2)中,成像分辨力Δx为每像素代表0.1mm。
4.按照权利要求2所述金属圆棒超声螺旋扫查检测的合成孔径成像技术,其特征在于:检测采用的探头为点聚焦或线聚焦探头。
5.一种权利要求2所述技术专用人工缺陷试样,其特征在于:所述人工缺陷试样设有11个横孔,孔深25mm。
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