[发明专利]一种具有低反向恢复电荷的超结功率器件终端结构在审

专利信息
申请号: 202210605096.9 申请日: 2022-05-31
公开(公告)号: CN115000152A 公开(公告)日: 2022-09-02
发明(设计)人: 刘超;夏云;陈万军;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学重庆微电子产业技术研究院
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06
代理公司: 重庆辉腾律师事务所 50215 代理人: 卢胜斌
地址: 401332 重庆市沙坪*** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 一种 具有 反向 恢复 电荷 功率 器件 终端 结构
【权利要求书】:

1.一种具有低反向恢复电荷的超结功率器件终端结构,包括漏极结构、耐压层结构以及源极结构,其中:

所述漏极结构包括漏极金属(1)以及n+漏区(2),所述n+漏区(2)的上表面与耐压层接触;所述漏极金属(1)上表面与n+漏区(2)下表面接触;所述漏极金属(1)引出端为器件漏极;

所述耐压层结构包括n型漂移区(3)、p型漂移区(4)以及n型场截止环(5),所述n型漂移区(3)和p型漂移区(4)并列设置于n+漏区(2)上表面;所述n型场截止环(5)位于n型漂移区(3)上表面,靠近终端边缘;

所述源极结构包括p型阱区(6)、p+源极(7)和源极金属(8),所述p型阱区(6)与耐压层接触;所述p+源极(7)位于p型阱区(9)上表面;所述源极金属(8)与p+源极(7)上表面接触;所述源极金属(8)引出端为器件源极;

其特征在于,在耐压层结构的表面设置有p+短路区(9)、n+短路区(10)、浮空金属(11),p+短路区(9)、n+短路区(10)相邻设置,所述p+短路区(9)位于p型漂移区(4)上表面且远离源极一侧;所述n+短路区(10)位于n型漂移区(3)上表面且远离源极一侧;所述浮空金属(11)同时与p+短路区(9)和n+短路区(10)上表面接触。

2.根据权利要求1所述的一种具有低反向恢复电荷的超结功率器件终端结构,n型漂移区(3)包括多根n条,p型漂移区(4)包括多根p条,多个n条和多根p条之间交叉设置。

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