[发明专利]一种寿命估算方法及其装置和空调器、可读存储介质

说明书

本发明提供了一种空调外机控制器的寿命估算方法、一种空调外机控制器的寿命估算装置、一种空调器以及一种可读存储介质，空调外机控制器的寿命估算方法包括：检测空调器外机内多个半导体件的失效率λ；将所述多个半导体件的失效率λ相加求和得总失效率λz；通过总失效率λz得到空调外机控制器的寿命t，其中，t＝1/λz。本发明实施例提高了空调外机控制器的寿命估算方法的精确度。

技术领域

本发明涉及空调器技术领域，具体而言，涉及一种空调外机控制器的寿命估算方法、一种空调外机控制器的寿命估算装置、一种空调器以及一种可读存储介质。

背景技术

随着半导体器件的快速发展，越来越多的电子产品出现在人们的日常生活当中，但是，如何准备评估电子产品的可靠性，降低产品的故障率，却成为很多公司的一大技术难题。

目前，国内很多研究所、大学对与电子产品可靠性的研究还是停留在单个半导体器件的研究上，他们一般是通过加速寿命试验来计算出某个半导体器件的加速因子，然后通过相关计算公式估算出此器件的寿命。而空调外机控制器所包含的半导体器件较多，显然用这种方法来估算空调外机控制器的寿命不太合理。因此研究出一种适用于空调外机控制器的寿命估算方法就变得有意义了。

发明内容

因此，本发明实施例提供一种空调外机控制器的寿命估算方法，提高了空调外机控制器的寿命估算方法的精确度。

为解决上述问题，本发明提供一种空调外机控制器的寿命估算方法，包括：检测空调器外机内多个半导体件的失效率λ；将所述多个半导体件的失效率λ相加求和得总失效率λz；通过总失效率λz得到空调外机控制器的寿命t，其中，t＝1/λz。

与现有技术相比，采用该技术方案所达到的技术效果：由于空调器控制器在长时间使用后大部分失效的原因都是半导体器件失效导致，因此本发明通过检测空调器外机内的多个半导体件的失效率λ，将多个半导体件的失效率λ相加求和得总失效率λz，且空调外机控制器的寿命t＝1/λz，通过多个半导体件的失效率λ累加，进而得到的空调外机控制器的寿命可靠性较高。

在本发明的一个实例中，所述检测空调器内多个半导体件的失效率λ具体包括：将空调器置于室内于第一预设温度T1下运行第一预设时间t1；记录所述多个半导体件的表面温度以及电气参数；其中，通过所述多个半导体件的表面温度以及电气参数计算得到所述多个半导体件的失效率λ。

与现有技术相比，采用该技术方案所达到的技术效果：通过将空调器置于室内于第一预设温度T1下运行第一预设时间t1将多个半导体件的表面温度以及电气参数进行记录，从而得到的半导体件的参数更加精确，再通过多个半导体件的表面温度以及电气参数计算得到多个半导体件的失效率λ，从而使半导体件的失效率λ也相对精确。

在本发明的一个实例中，所述多个半导体件包括：风机IPM、压缩机IPM、开关电源芯片、IGBT、单片机、整流桥以及功率二极管中的任意多个。

与现有技术相比，采用该技术方案所达到的技术效果：风机IPM、压缩机IPM、开关电源芯片、IGBT、单片机、整流桥以及功率二极管均为空调外机控制器中较为容易失效的半导体件，因此通过检测风机IPM、压缩机IPM、开关电源芯片、IGBT、单片机、整流桥以及功率二极管中的任意多个得到的空调外机控制器的寿命相对精确。