[发明专利]收料机构及相应的IC芯片检测装置

说明书

本发明提供一种收料机构及相应的IC芯片检测装置，收料机构的分料组件设置在斜板上且靠近检测站待料轨道，用于将检测完毕的IC芯片分类收料，良品收纳组件设置在斜板上且靠近分料组件，用于接收检测后的良品IC芯片，不良品收纳组件设置在斜板上且靠近分料组件，用于接收检测后的不良品IC芯片。本发明的IC芯片检测装置可以同时对两条轨道的芯片进行检测，检测字符时特制光源上的字符光源单独使用，检测引脚时背光源和特制光源上的引脚光源一起使用，倾斜的运料轨道，利用IC芯片自身的重量滑落到检测位置，然后由收料机构对不同检测结果的IC芯片进行分类收纳，效率高，且整体结构稳定耐用。

本申请是分案申请，原申请的申请号为：“202011378793.2”、申请日为：“2020年11月30日”发明名称为：“IC芯片检测装置”。

技术领域

本发明涉及芯片检测设备领域，特别涉及一种收料机构及相应的IC芯片检测装置。

背景技术

随着电子元件迅速向微型化、片式化、高性能方向的发展，集成电路IC的外观缺陷检测是电子元件的质量保证，通常在IC植好球，焊接好以后，要对IC的外观进行检测，外观检测是IC生产的一个重要环节，通过外观检测，可以避免由IC外观缺陷导致的IC功能缺陷。现有的IC检测装置检测对检测后的IC芯片进行分料收料的效率低，故需要提供一种收料机构及相应的IC芯片检测装置来解决上述技术问题。

发明内容

本发明提供一种IC芯片检测装置，以解决现有技术中的IC检测装置检测对检测后的IC芯片进行分料收料的效率低的问题。

为解决上述技术问题，本发明的技术方案为：一种收料机构，其用于接收检测机构检测后的IC芯片并分类收纳，所述收料机构包括：

分料组件，设置在斜板上，靠近所述检测站待料轨道，用于将检测完毕的IC芯片分类收料；

良品收纳组件，设置在所述斜板上，靠近所述分料组件，用于接收检测后的良品IC芯片；以及

不良品收纳组件，设置在所述斜板上，靠近所述分料组件，用于接收检测后的不良品IC芯片。

在本发明中，所述分料组件包括：

分料滑轨，设置在所述斜板上；

分料滑块，可滑动的连接在所述分料滑轨上；

分料梭，设置在所述分料滑块上，内部中空，用于运输所述IC芯片；

分料电机，设置在所述斜板一端，位于所述分料滑轨一端，用于带动所述分料梭移动；以及

皮带结构，连接所述分料电机和分料梭，用于带动分料梭移动。

其中，所述良品收纳组件包括：

良品导轨，设置在所述斜板上，所述良品导轨的轴线和所述检测站待料轨道的轴线位于同一直线上，用于运输IC芯片；

良品料管夹，两个所述良品料管夹竖直设置在所述斜板上，靠近所述良品导轨，用于接收来自良品导轨的IC芯片，良品料管夹上设置有收料卡槽和收料通槽，所述收料卡槽设置在良品料管夹侧面，收料通槽设置在良品料管夹下端，连通良品料管夹三个侧壁，且连通收料卡槽，两个收料卡槽相对设置；

良品料管，设置在两个所述良品料管夹的收料卡槽内，用于收纳检测后的良品IC芯片；

良品盒，设置在所述斜板上，包括收纳腔，所述收纳腔沿斜板板面向下凹陷，用于收纳装好IC芯片的良品料管；以及

推料位结构，设置在两个所述良品料管夹之间，用于将收纳满IC芯片的良品料管从良品料管夹上推送到良品盒内。