[发明专利]轴承圈测量装置

说明书

本发明公开了轴承圈测量装置，本方案中集中轴承圈内圈、外圈测量为一体，其中轴承圈内圈测量机构中以三个支撑件一围成置物空间以放置轴承圈，移动支撑件二二次定位，多点定位保持受力平衡，移动触头一抵接轴承圈内圈，移动转动机构一驱使轴承圈转动，通过位移传感器一实时测量触头一的位置变化，如传输至控制端，即可测量出内圈轴径变化。轴承圈外圈测量机构中以三个支撑件三围成置物空间以放置轴承圈，移动触头二抵接轴承圈外圈，移动转动机构二驱使轴承圈转动，通过位移传感器二实时测量触头二的位置变化，如传输至控制端，即可测量出外圈轴径变化，该方案中轴径测量准确，测量效率高。

技术领域

本发明涉及测量装置技术领域，具体涉及轴承圈测量装置。

背景技术

轴承圈内、外径的一致性差会增加轴承的噪声，降低寿命。传统技术中的轴承圈内、外径的检测方式多为单一检测，通常采用机械式直径测量仪或千分表进行检验，具体过程为检验时将轴承圈旋转一周，然后观察测量仪器仪表读数变化，检测速度慢，且误差较高，此外轴承圈内外径的检测通多需要在不同工位上进行检测，集成度低，需改进。

发明内容

为解决上述至少一个技术缺陷，本发明提供了如下技术方案：

本申请文件公开轴承圈测量装置，包括轴承圈内圈测量机构、轴承圈外圈测量机构；

所述轴承圈内圈测量机构包括第一移位机构一、第一移位机构二、第一移位机构三、支撑件一、支撑件二、转动机构一、位移传感器一、触头一，至少三个支撑件一围成的置物空间用以置入轴承圈，所述触头一随第一移位机构一的移动端移动，所述位移传感器一、第一移位机构一、支撑件二均随第一移位机构二的移动端移动；在第一移位机构一的调整下，第一移位机构二移动触头一、至少两个支撑件二伸入置物空间内以抵接轴承圈的内圈，转动机构一位于置物空间的正面，支撑件二、位移传感器一位于置物空间的背面，第一移位机构三朝向置物空间移动转动机构一且以转动机构一驱使置物空间内的轴承圈进行转动，位移传感器一对触头一在测量过程中的位置变化进行监测；

所述轴承圈外圈测量机构包括第二移位机构一、第二移位机构二、第二移位机构三、支撑件三、转动机构二、位移传感器二、触头二，至少三个支撑件三围成的置物空间用以置入轴承圈，所述触头二随第二移位机构一的移动端移动，所述位移传感器二、第二移位机构一均随第二移位机构二的移动端移动；在第二移位机构一的调整下，第二移位机构二移动触头二以抵接置物空间内轴承圈的外圈且触头二所处位置与其一支撑件三相对，转动机构二位于置物空间的正面或背面，第二移位机构三朝向置物空间移动转动机构二且以转动机构二驱使置物空间内的轴承圈进行转动，位移传感器二对触头二在测量过程中的位置变化进行监测。

本方案中集中轴承圈内圈、外圈测量为一体，其中轴承圈内圈测量机构中以三个支撑件一围成置物空间以放置轴承圈，移动支撑件二二次定位，多点定位保持受力平衡，移动触头一抵接轴承圈内圈，移动转动机构一驱使轴承圈转动，通过位移传感器一实时测量触头一的位置变化，如传输至控制端，即可测量出内圈轴径变化。轴承圈外圈测量机构中以三个支撑件三围成置物空间以放置轴承圈，移动触头二抵接轴承圈外圈，移动转动机构二驱使轴承圈转动，通过位移传感器二实时测量触头二的位置变化，如传输至控制端，即可测量出外圈轴径变化，触头二的抵接位置与支撑三相对的布局有助降低触头二抵接对轴承圈的受力造成影响，进而影响轴径测量。该方案中轴径测量准确，测量效率高。

进一步，测量状态下，两支撑件二、两支撑件一分别以上方支撑件一的轴向方向对称，两支撑件三以上方支撑件三的轴向方向对称。有利于受力平衡，避免受力不平衡对轴径测量造成影响。

进一步，还包括纵向设置的安装架，所述安装架上设置轴承圈内圈测量机构、轴承圈外圈测量机构，至少三个支撑件一、至少三个支撑件三分别在安装架上围成置物空间。纵向安装轴承圈内圈、外圈测量机构，方便后期进料。