[发明专利]轴承圈测量装置

权利要求书

1.轴承圈测量装置，其特征在于，包括轴承圈内圈测量机构、轴承圈外圈测量机构；

所述轴承圈内圈测量机构包括第一移位机构一、第一移位机构二、第一移位机构三、支撑件一、支撑件二、转动机构一、位移传感器一、触头一，至少三个支撑件一围成的置物空间用以置入轴承圈，所述触头一随第一移位机构一的移动端移动，所述位移传感器一、第一移位机构一、支撑件二均随第一移位机构二的移动端移动；在第一移位机构一的调整下，第一移位机构二移动触头一、至少两个支撑件二伸入置物空间内以抵接轴承圈的内圈，转动机构一位于置物空间的正面，支撑件二、位移传感器一位于置物空间的背面，第一移位机构三朝向置物空间移动转动机构一且以转动机构一驱使置物空间内的轴承圈进行转动，位移传感器一对触头一在测量过程中的位置变化进行监测；

所述轴承圈外圈测量机构包括第二移位机构一、第二移位机构二、第二移位机构三、支撑件三、转动机构二、位移传感器二、触头二，至少三个支撑件三围成的置物空间用以置入轴承圈，所述触头二随第二移位机构一的移动端移动，所述位移传感器二、第二移位机构一均随第二移位机构二的移动端移动；在第二移位机构一的调整下，第二移位机构二移动触头二以抵接置物空间内轴承圈的外圈且触头二所处位置与其一支撑件三相对，转动机构二位于置物空间的正面或背面，第二移位机构三朝向置物空间移动转动机构二且以转动机构二驱使置物空间内的轴承圈进行转动，位移传感器二对触头二在测量过程中的位置变化进行监测。

2.如权利要求1所述的轴承圈测量装置，其特征在于：测量状态下，两支撑件二、两支撑件一分别以上方支撑件一的轴向方向对称，两支撑件三以上方支撑件三的轴向方向对称。

3.如权利要求1所述的轴承圈测量装置，其特征在于：还包括纵向设置的安装架，所述安装架上设置轴承圈内圈测量机构、轴承圈外圈测量机构，至少三个支撑件一、至少三个支撑件三分别在安装架的面上围成置物空间。

4.如权利要求3所述的轴承圈测量装置，其特征在于：还包括第一移位机构四，位于上方的支撑件一、支撑件三弹性设置，所述安装架上设置第一移位机构四，两个第一移位机构四的移动端分别与位于下方的两个支撑件一连接。

5.如权利要求3所述的轴承圈测量装置，其特征在于：所述第一移位机构二、第二移位机构二分别通过固定座一设置在安装架上，所述第一移位机构二、第二移位机构二的移动端上均设置固定座二，所述第一移位机构一、位移传感器一、支撑件二及第二移位机构一、位移传感器二分别位于对应的固定座二上，第一移位机构一，第二移位机构一的移动端上设置固定座三，所述触头一、触头二分别位于相应的固定座三上。

6.如权利要求5所述的轴承圈测量装置，其特征在于：所述固定座二分别与相应第一移位机构二、第二移位机构二上设置的滑块形成滑动连接，所述固定座二上设置安装座一，所述第一移位机构一、位移传感器一及第二移位机构一、位移传感器二分别设置在相应安装座一上，所述位移传感器一、位移传感器二的测量端分别与相应的固定座三对应；优选：轴承圈内圈测量机构中固定座二上还包括安装座二，安装座二上设置支撑件二且相应固定座三位于安装座一与安装座二之间。

7.如权利要求3所述的轴承圈测量装置，其特征在于：所述轴承圈内圈测量机构、轴承圈外圈测量机构中均包括顶料机构，所述顶料机构包括第三移位机构、置物台，所述顶料机构位于相应置物空间的一侧的安装架上，置物台位于第三移位机构及相应置物空间之间，以第三移位机构的移动端将置物台上轴承圈推入置物空间。

8.如权利要求7所述的轴承圈测量装置，其特征在于：还包括进料通道，所述置物台上方的安装架上设置进料通道，所述进料通道包括相连接的横向延伸段、纵向延伸段，所述纵向延伸段底端出料口的下方为置物台；优选，还包括物料探测传感器，所述物料探测传感器用以探测进料通道内是否有轴承圈；优选，所述物料探测传感器位于纵向延伸段处。