[发明专利]对机床加工头的实际摆长进行测量的方法及装置

权利要求书

1.一种用于对机床加工头的实际摆长进行测量的方法，包括如下步骤：

a)向所述机床的加工头施加指令组合，以得到至少两个加工图形，所述指令组合包括使所述加工头以偏摆姿态进行加工的指令和以垂直姿态或对称偏摆姿态进行加工的指令，所述加工头在所述偏摆姿态下相对于竖直方向偏摆一定角度，所述加工头在所述垂直姿态下垂直于加工表面，所述加工头在所述对称偏摆姿态下相对于竖直方向朝另一方向偏摆所述偏摆姿态的偏摆角度，该偏摆角度小于90°，所述偏摆姿态、所述垂直姿态和所述对称偏摆姿态下的所述加工头位于一个平面内；

b)当所述至少两个加工图形之间的实际偏差与对应于所述偏摆姿态的指令坐标的位置相对于对应于所述垂直姿态或所述对称偏摆姿态的指令坐标的位置的指令坐标距离不同，则判定所述加工头的实际摆长相对于原始摆长发生了变化；

c)根据所述实际偏差、所述指令坐标距离和所述偏摆姿态的偏摆角度计算得到所述加工头的实际摆长相对于原始摆长的摆长变化；以及

d)基于所述原始摆长和所述摆长变化得到所述加工头的实际摆长。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述步骤b)中，当所述实际偏差与所述指令坐标距离相等，则判定所述加工头的实际摆长相对于原始摆长未发生变化。

3.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述指令组合包括使所述加工头以所述垂直姿态进行加工的指令和使所述加工头以n个所述偏摆姿态进行加工的指令，n为≥2的自然数，并且

所述步骤c)包括：

根据各个偏摆姿态i下的偏摆角度、各个偏摆姿态i下所得到的加工图形相对于所述垂直姿态下的加工图形的实际偏差、以及对应于各个偏摆姿态i的指令坐标的位置相对于对应于所述垂直姿态的指令坐标的位置的指令坐标距离计算得到n个摆长变化，i为1～n；以及

对所述n个摆长变化求平均值，以得到最终的摆长变化。

4.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述指令组合包括使所述加工头以n个所述偏摆姿态和n个所述对称偏摆姿态进行加工的指令，n为≥2的自然数，并且

所述步骤c)包括：

根据各个偏摆姿态i下的偏摆角度、各个偏摆姿态i下所得到的加工图形相对于各个对应的对称偏摆姿态i下所得到的加工图形的实际偏差、以及对应于各个偏摆姿态i的指令坐标的位置相对于对应于各个对称偏摆姿态i的指令坐标的位置的指令坐标距离计算得到n个摆长变化，i为1～n；以及

对所述n个摆长变化求平均值，以得到最终的摆长变化。

5.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述指令组合包括使所述加工头以(m1+m2)个所述偏摆姿态和m1个所述对称偏摆姿态进行加工的指令以及使所述加工头以所述垂直姿态进行加工的指令，m1和m2皆为≥1的自然数，并且

所述步骤c)包括：

根据所述m1个偏摆姿态中各个偏摆姿态i下的偏摆角度、所述m1个偏摆姿态中各个偏摆姿态i下所得到的加工图形相对于所述m1个对称偏摆姿态中各个对应对称偏摆姿态i下所得到的加工图形的实际偏差、以及对应于各个偏摆姿态i的指令坐标的位置相对于对应于各个对称偏摆姿态i的指令坐标的位置的指令坐标距离计算得到m1个摆长变化，i为1～m1；

根据所述m2个偏摆姿态中各个偏摆姿态i’下的偏摆角度、所述m2个偏摆姿态中各个偏摆姿态i’下所得到的加工图形相对于所述垂直姿态下的加工图形的实际偏差、以及对应于各个偏摆姿态i’的指令坐标的位置相对于对应于所述垂直姿态的指令坐标的位置的指令坐标距离计算得到m2个摆长变化，i’为1～m2；以及

对所述(m1+m2)个摆长变化求平均值，以得到最终的摆长变化。

6.如权利要求1-5中任一项所述的方法，其特征在于，对应于所述偏摆姿态、所述垂直姿态和所述对称偏摆姿态的指令坐标的位置完全相同。

7.如权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述加工图形包括点、直线和曲线。