[发明专利]线光谱共焦标定方法、装置、设备、系统及存储介质在审

专利信息
申请号: 202210384204.4 申请日: 2022-04-13
公开(公告)号: CN114754676A 公开(公告)日: 2022-07-15
发明(设计)人: 王彦喆;胡浩 申请(专利权)人: 熵智科技(深圳)有限公司
主分类号: G01B11/00 分类号: G01B11/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 518034 广东省深圳市福田区*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 光谱 标定 方法 装置 设备 系统 存储 介质
【说明书】:

发明涉及光学测量技术领域,公开了一种线光谱共焦标定方法、装置、设备、系统及存储介质,该方法通过调整标定板至线光谱共焦传感器量程内,采集所述线光谱共焦传感器测量所述标定板而形成的第一传感器成像图像,提取所述第一传感器成像图像中亮线上对应的像素,并对所述像素进行融合,获得光源融合图,根据所述光源融合图判断光源融合标定是否成功,若所述光源融合标定成功,则对所述光源融合图进行图像处理,获得光源图像,消除环境噪音,减少误差对线光谱共焦传感器标定的影响;根据所述光源图像,对所述线光谱共焦传感器进行线位标定、峰值标定和间距测试,获得传感器标定结果,采集数据进行多次标定,提高标定精度。

技术领域

本发明涉及光学测量技术领域,尤其涉及一种线光谱共焦标定方法、装置、设备、系统及存储介质。

背景技术

在工业应用领域的传感器中,不受噪声干扰,保证超高稳定性测量,是衡量传感器的关键标准。工业传感器的基础是保障产品的稳定性和一致性,传感器各项算法参数的标定和指标性能的测试,是传感器研发生产过程中十分重要的一个环节。

线光谱共焦传感器由于其内部结构复杂,光学及结构器件种类繁多,生产安装过程步骤较多。无法避免的导致每台传感器生产完成后的光学参数及性能指标与设计值存在差异,这些误差控制在合理公差范围内,每个传感器独立的系统性标定就是十分必要且关键的。目前的线光谱共焦传感器的标定通常因存在环境因素的干扰,标定精度不高。

上述内容仅用于辅助理解本发明的技术方案,并不代表承认上述内容是现有技术。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种线光谱共焦标定方法、装置、设备、系统及存储介质,旨在解决现有技术中线光谱共焦传感器的标定因存在环境因素的干扰等原因,标定精度不高的技术问题。

为实现上述目的,本发明提供一种线光谱共焦标定方法,所述线光谱共焦标定方法包括以下步骤:

调整标定板至线光谱共焦传感器量程内,采集所述线光谱共焦传感器测量所述标定板而形成的第一传感器成像图像;

提取所述第一传感器成像图像中亮线上对应的像素,并对所述像素进行融合,获得光源融合图;

根据所述光源融合图判断光源融合标定是否成功;

若所述光源融合标定成功,则对所述光源融合图进行图像处理,获得光源图像;

根据所述光源图像,对所述线光谱共焦传感器进行线位标定、峰值标定和间距测试,获得传感器标定结果。

优选地,根据所述光源图像,对所述线光谱共焦传感器进行线位标定、峰值标定和间距测试,获得传感器标定结果,包括:

对所述光源图像中每个测量点的信号进行融合,获得光源信号;

根据所述光源信号标定亮线中心位置,获得线位标定结果;

根据所述线位标定结果判断线位标定是否成功;

若线位标定成功,则对所述线光谱共焦传感器进行峰值标定和间距测试,获得传感器标定结果。

优选地,若线位标定成功,则对所述线光谱共焦传感器进行峰值标定和间距测试,获得传感器标定结果,包括:

若线位标定成功,则控制所述标定板等间距移动,移动到的位置作为测量点,采集所述线光谱共焦传感器对所述测量点进行测量而形成的第二传感器成像图像;

构建各所述测量点和所述第二传感器成像图像中每条线的各峰值之间的多项式拟合关系,获得波长与测量点之间的关系;

根据所述波长与测量点之间的关系,输出峰值标定曲线;

根据所述峰值标定曲线判断线位标定是否成功;

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