[发明专利]一种红外图像锅盖效应校正方法、系统及计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202210372611.3 申请日: 2022-04-11
公开(公告)号: CN114881870A 公开(公告)日: 2022-08-09
发明(设计)人: 祁海军;赵金博;吴金浩 申请(专利权)人: 北京波谱华光科技有限公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00;G06T5/20;G06T5/50;H04N5/365;H04N5/33
代理公司: 天津博润嘉泓知识产权代理事务所(普通合伙) 12232 代理人: 李莹莹
地址: 100015 北京市朝*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 红外 图像 锅盖 效应 校正 方法 系统 计算机 存储 介质
【说明书】:

本发明涉及一种红外图像锅盖效应校正方法、系统及计算机存储介质,其方法包括,采集锅盖图像C0,并计算出锅盖图像C0的均值将锅盖图像C0与均值作差处理,得到差值图像C;将差值图像C作为本底C;利用本底C计算出当前预校正图像X的锅盖校正系数k0,并对锅盖校正系数k0进行更新,得到锅盖校正更新系数k;基于锅盖校正更新系数k以及本底C对当前预校正图像X进行锅盖校正,得到去除锅盖效应后的校正图像在本发明中,通过预存本底C,然后利用当前预校正图像X和本底C计算出一个校正系数k,校正系数k在具体实施过程中只需实时获取每一帧当前预校正图像X的和Xi,j,最后通过计算得到校正后的图像,锅盖去除效果好且计算过程简单。

技术领域

本发明涉及红外图像处理领域,具体涉及一种红外图像锅盖效应校正方法、系统及计算机存储介质。

背景技术

基于红外焦平面技术当前发展水平,焦平面像元之间的响应特性不一致,因此红外成像存在非均匀性问题。由于焦平面探测器放置于红外热像仪壳体内部,探测器四周受到红外热像仪产热影响,导致最终的红外图像呈现中间暗,四周亮的“锅盖”效应。红外热像仪的镜头结构也会加重“锅盖”效应,由于快门处于红外热像仪结构内部,置于焦平面探测器的前面,因此快门校正时快门的辐射没有通过镜头结构,而成像时的辐射受到镜头结构会产生畸变,因此加重了“锅盖”现象。

现有的红外图像去锅盖方法参见公开号为CN113421220A的专利,在该现有技术中,没有考虑理想本底的均值可能不是绝对为0的情况,小数点后的值会对结果产生影响,导致图像校正效果不理想;另外,该现有技术对于校正系数的计算过程较为复杂。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种红外图像锅盖效应校正方法、系统及计算机存储介质,锅盖去除效果好且计算过程简单。

本发明解决上述技术问题的技术方案如下:一种红外图像锅盖效应校正方法,其特征在于:包括以下步骤,

S1,采集锅盖图像C0,并计算出所述锅盖图像C0的均值将所述锅盖图像C0与所述均值作差处理,得到差值图像C;将所述差值图像C作为本底C;

S2,利用所述本底C计算出当前预校正图像X的锅盖校正系数k0,并对所述锅盖校正系数k0进行更新,得到锅盖校正更新系数k;

S3,基于所述锅盖校正更新系数k以及所述本底C对所述当前预校正图像X进行锅盖校正,得到去除锅盖效应后的校正图像

基于上述一种红外图像锅盖效应校正方法,本发明还提供一种红外图像锅盖效应校正系统。

一种红外图像锅盖效应校正系统,包括以下模块,

本底生成模块,其用于采集锅盖图像C0,并计算出所述锅盖图像C0的均值将所述锅盖图像C0与所述均值作差处理,得到差值图像C;将所述差值图像C作为本底C;

系数计算模块,其用于利用所述本底C计算出当前预校正图像X的锅盖校正系数k0,并对所述锅盖校正系数k0进行更新,得到锅盖校正更新系数k;

校正模块,其用于基于所述锅盖校正更新系数k以及所述本底C对所述当前预校正图像X进行锅盖校正,得到去除锅盖效应后的校正图像

基于上述一种红外图像锅盖效应校正方法,本发明还提供一种计算机存储介质。

一种计算机存储介质,包括存储器以及存储在所述存储器内的计算机程序,所述计算机程序被处理器执行时,实现如上述所述的红外图像锅盖效应校正方法。

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