[发明专利]一种红外图像锅盖效应校正方法、系统及计算机存储介质在审
申请号: | 202210372611.3 | 申请日: | 2022-04-11 |
公开(公告)号: | CN114881870A | 公开(公告)日: | 2022-08-09 |
发明(设计)人: | 祁海军;赵金博;吴金浩 | 申请(专利权)人: | 北京波谱华光科技有限公司 |
主分类号: | G06T5/00 | 分类号: | G06T5/00;G06T5/20;G06T5/50;H04N5/365;H04N5/33 |
代理公司: | 天津博润嘉泓知识产权代理事务所(普通合伙) 12232 | 代理人: | 李莹莹 |
地址: | 100015 北京市朝*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 红外 图像 锅盖 效应 校正 方法 系统 计算机 存储 介质 | ||
1.一种红外图像锅盖效应校正方法,其特征在于:包括以下步骤,
S1,采集锅盖图像C0,并计算出所述锅盖图像C0的均值将所述锅盖图像C0与所述均值作差处理,得到差值图像C;将所述差值图像C作为本底C;
S2,利用所述本底C计算出当前预校正图像X的锅盖校正系数k0,并对所述锅盖校正系数k0进行更新,得到锅盖校正更新系数k;
S3,基于所述锅盖校正更新系数k以及所述本底C对所述当前预校正图像X进行锅盖校正,得到去除锅盖效应后的校正图像
2.根据权利要求1所述的红外图像锅盖效应校正方法,其特征在于:所述S1具体为,
S11,将红外机芯对着黑体,并调节所述黑体的温度,当所述红外机芯感应的图像中出现锅盖效应时,通过两点校正法采集此时的锅盖图像C0;
S12,对所述锅盖图像C0进行均值滤波,计算出所述锅盖图像C0的均值
S13,将所述锅盖图像C0与所述均值作差处理,得到差值图像C;将所述差值图像C作为本底C;
则,所述本底C的表达式为,
3.根据权利要求1所述的红外图像锅盖效应校正方法,其特征在于:所述S2具体为,
S21,根据所述本底C和所述当前预校正图像X,找到一个初始系数k′,使k′·C与所述当前预校正图像X的三维曲面图像形状最接近;
其中,当k′·C与所述当前预校正图像X的三维曲面图像形状最接近时满足下式,
具体的,Min S(k′,b)为的最小值,Xi,j为所述当前预校正图像X中(i,j)坐标处的值,Ci,j为所述本底C中(i,j)坐标处的值,b为常数;则在所述本底C的均值为零的情况下,所述初始系数k′的表达式为,
S22,在所述本底C的均值归零后,计算出所述本底C的矩阵和sumC;
S23,基于所述初始系数k′,结合所述本底C的矩阵和sumC以及所述当前预校正图像X的点数和均值,计算出所述当前预校正图像X的锅盖校正系数k0;其中,所述当前预校正图像X的锅盖校正系数k0的表达式为,
具体的,N为所述当前预校正图像X的点数,为所述当前预校正图像X的均值;
S24,对所述当前预校正图像X的锅盖校正系数k0进行更新,得到所述当前预校正图像X的锅盖校正更新系数k;其中,所述当前预校正图像X的锅盖校正更新系数k的表达式为,
k=α·k0+(1-α)·k-1;
具体的,α为权重,k-1为上一帧预校正图像的锅盖校正更新系数。
4.根据权利要求3所述的红外图像锅盖效应校正方法,其特征在于:所述本底C的矩阵和sumC的计算公式为,
所述当前预校正图像X的均值的计算公式为,
5.根据权利要求1所述的红外图像锅盖效应校正方法,其特征在于:在所述S3中,基于所述锅盖校正更新系数k以及所述本底C对所述当前预校正图像X进行锅盖校正的校正公式为,
其中,为当前预校正图像X经过锅盖校正后得到的红外图像。
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