[发明专利]芯片最高频率的搜索方法、装置和测试设备

权利要求书

1.一种芯片最高频率的搜索方法，其特征在于，包括：

获取待测芯片在目标电压下的预测最高频率；

根据所述预测最高频率生成搜索频点集合，所述搜索频点集合包括所述预测最高频率对应的搜索频点、比所述预测最高频率的频率值大的N个均匀设置的搜索频点，以及比所述预测最高频率的频率值小的N个均匀设置的搜索频点，相邻的所述搜索频点之间的频率差为预设频率步长，所述N为大于1的正整数；

采用所述搜索频点集合中的各搜索频点进行最高频率测试，得到所述待测芯片在所述目标电压下的实际最高频率。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测芯片在目标电压下的预测最高频率，包括：

获取预设数据库中存储的与所述待测芯片对应的目标电压下的多个最高频率，其中，与所述待测芯片对应的目标电压下的多个最高频率是所述待测芯片所属的待测芯片批次中其他芯片在所述目标电压下进行最高频率测试得到的最高频率；

对所述多个最高频率采用预设计算方法进行计算得到预测最高频率。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述多个最高频率采用预设计算方法进行计算得到预测最高频率，包括：

对所述多个最高频率进行取中值运算得到预测最高频率。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述预设数据库中存储的与所述待测芯片对应的目标电压下的多个最高频率的生成方法，包括：

对所述待测芯片所属的待测芯片批次进行抽样得到抽样芯片；

对所述抽样芯片进行目标电压下的最高频率测试得到最高频率，将得到的最高频率存储到所述预设数据库中。

5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

将得到的所述待测芯片在所述目标电压下的实际最高频率存储到所述预设数据库中。

6.一种芯片最高频率的搜索装置，其特征在于，包括：

预测频率获取模块，用于获取待测芯片在目标电压下的预测最高频率；

频点集合获取模块，用于根据所述预测最高频率生成搜索频点集合，所述搜索频点集合包括所述预测最高频率对应的搜索频点、比所述预测最高频率的频率值大的N个均匀设置的搜索频点，以及比所述预测最高频率的频率值小的N个均匀设置的搜索频点，相邻的所述搜索频点之间的频率差为预设频率步长，所述N为大于1的正整数；

最高频率计算模块，用于采用所述搜索频点集合中的各搜索频点进行最高频率测试，得到所述待测芯片在所述目标电压下的实际最高频率。

7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述预测频率获取模块包括：

参考频率获取单元，用于获取预设数据库中存储的与所述待测芯片对应的目标电压下的多个最高频率，其中，与所述待测芯片对应的目标电压下的多个最高频率是所述待测芯片所属的待测芯片批次中其他芯片在所述目标电压下进行最高频率测试得到的最高频率；

预测频率计算单元，用于对所述多个最高频率采用预设计算方法进行计算得到预测最高频率。

8.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，还包括：

参考频率生成模块，用于对所述待测芯片所属的待测芯片批次进行抽样得到抽样芯片；对所述抽样芯片进行目标电压下的最高频率测试得到最高频率，将得到的最高频率存储到所述预设数据库中。

9.根据权利要求6-8中任一项所述的装置，其特征在于，还包括：

最高频率处理模块，用于将得到的所述待测芯片在所述目标电压下的实际最高频率存储到所述预设数据库中。

10.一种测试设备，其特征在于，包括：至少一个处理器；以及与所述处理器通信连接的至少一个存储器，其中：所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1至5任一所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储计算机指令，所述计算机指令使所述计算机执行如权利要求1至5任一所述的方法。