[发明专利]材质分类方法、装置、电子设备及存储介质在审
申请号: | 202210281373.5 | 申请日: | 2022-03-21 |
公开(公告)号: | CN114677539A | 公开(公告)日: | 2022-06-28 |
发明(设计)人: | 周杰;高灿;万俊 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G06V10/764 | 分类号: | G06V10/764;G06V10/762;G06V10/74;G06V10/58;G06K9/62 |
代理公司: | 深圳市沃德知识产权代理事务所(普通合伙) 44347 | 代理人: | 高杰;郭梦霞 |
地址: | 518060 广东省*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 材质 分类 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种材质分类方法,其特征在于,所述方法包括:
控制高光谱相机采集传送装置上的待分类物品的图像,对所述图像进行采样,得到所述图像中每个像素点在每个预设波段的第一光谱值;
基于所述第一光谱值计算每个预设波段对应的第二光谱值,基于所述第二光谱值确定所述待分类物品对应的材质类别;
将所述待分类物品收集至所述材质类别对应的收集装置。
2.如权利要求1所述的材质分类方法,其特征在于,所述控制高光谱相机采集传送装置上的待分类物品的图像,包括:
当检测到传送装置的预设位置上有待分类物品时,确定所述高光谱相机的第一启动时间;
基于所述第一启动时间控制所述高光谱相机采集所述待分类物品的图像。
3.如权利要求1所述的材质分类方法,其特征在于,所述基于所述第一光谱值计算每个预设波段对应的第二光谱值,包括:
对每个预设波段内的像素点的第一光谱值执行聚类分析,得到每个预设波段的各个聚类中心的第三光谱值;
对所述第三光谱值执行去噪处理,基于去噪处理结果计算每个预设波段对应的第二光谱值。
4.如权利要求1所述的材质分类方法,其特征在于,所述基于所述第二光谱值确定所述待分类物品对应的材质类别,包括:
基于所述第二光谱值确定所述待分类物品对应的特征向量;
获取每个材质类别对应的标准向量,分别计算所述特征向量与每个材质类别对应的标准向量的相似度值;
基于所述相似度值确定所述待分类物品对应的材质类别。
5.如权利要求1所述的材质分类方法,其特征在于,所述将所述待分类物品收集至所述材质类别对应的收集装置,包括:
确定所述材质类别对应的收集装置,计算所述收集装置的第二启动时间;
根据所述第二启动时间启动所述收集装置,控制所述收集装置收集所述待分类物品。
6.如权利要求1所述的材质分类方法,其特征在于,所述传送装置的末端设置有末端检测器和末端收集装置,所述方法还包括:
控制所述末端检测器检测所述传送装置的末端是否有待分类物品;
若有,则将所述待分类物品收集至所述末端收集装置。
7.如权利要求6所述的材质分类方法,其特征在于,在所述则将所述待分类物品收集至所述末端收集装置之后,所述方法还包括:
若预设时间段内,所述末端收集装置收集的待分类物品的数量大于数量阈值,则向预设客户端发送预警信息。
8.一种材质分类装置,其特征在于,所述装置包括:
采集模块,用于控制高光谱相机采集传送装置上的待分类物品的图像,对所述图像进行采样,得到所述图像中每个像素点在每个预设波段的第一光谱值;
分类模块,用于基于所述第一光谱值计算每个预设波段对应的第二光谱值,基于所述第二光谱值确定所述待分类物品对应的材质类别;
收集模块,用于将所述待分类物品收集至所述材质类别对应的收集装置。
9.一种电子设备,其特征在于,所述电子设备包括:
至少一个处理器;以及,
与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,
所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的材质分类程序,所述材质分类程序被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至7中任一项所述的材质分类方法。
10.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质上存储有材质分类程序,所述材质分类程序可被一个或者多个处理器执行,以实现如权利要求1至7任一项所述的材质分类方法。
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