[发明专利]信号线电迁移检查方法及装置、电子设备和存储介质在审
申请号: | 202210185213.0 | 申请日: | 2022-02-28 |
公开(公告)号: | CN114580336A | 公开(公告)日: | 2022-06-03 |
发明(设计)人: | 王巍;李凤岳;方勇;王姣;马志伟 | 申请(专利权)人: | 海光信息技术股份有限公司 |
主分类号: | G06F30/394 | 分类号: | G06F30/394;G06F30/398 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 罗莎 |
地址: | 300392 天津市华苑产业区*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号线 迁移 检查 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
一种时钟网络的信号线电迁移检查方法及装置、电子设备和非瞬时性计算机可读存储介质。时钟网络包括多个接收单元、至少一条主干时钟信号线和多个连接结构,信号线电迁移检查方法包括:确定位于至少一条主干时钟信号线上的至少一个主干连接孔,其中,每个主干连接孔与至少一个接收单元对应;基于至少一个主干连接孔,生成与至少一个主干连接孔一一对应的至少一个孔网络,其中,每个孔网络包括每个孔网络对应的主干连接孔、与主干连接孔连接的至少一个接收单元和用于连接主干连接孔和至少一个接收单元的至少一个连接结构;基于至少一个孔网络,生成目标设计交换格式文件;基于目标设计交换格式文件对时钟网络进行信号线电迁移检查。
技术领域
本公开的实施例涉及一种时钟网络的信号线电迁移检查方法、时钟网络的信号线电迁移检查装置、电子设备和非瞬时性计算机可读存储介质。
背景技术
电迁移效应(electro-migration effect)通常是指金属导线中的电子在大电流的作用下,产生电子迁移的现象。电迁移效应包括发生在相邻导体表面的离子迁移(例如,常见的银离子迁移)和发生在金属导体内部的金属化电子迁移。电迁移效应主要发生在高电流密度和高频率变化的连线上,如电源线、时钟线等。电迁移效应可能导致集成电路中的金属线断裂,从而影响集成电路的正常工作,从而电迁移效应已成为影响集成电路中的互连线可靠性最重要的问题之一。
发明内容
本公开至少一个实施例提供一种时钟网络的信号线电迁移检查方法,所述时钟网络包括多个接收单元、至少一条主干时钟信号线和多个连接结构,每个连接结构包括至少一条次级时钟信号线,所述信号线电迁移检查方法包括:确定位于所述至少一条主干时钟信号线上的至少一个主干连接孔,其中,每个主干连接孔与至少一个接收单元对应;基于所述至少一个主干连接孔,生成与所述至少一个主干连接孔一一对应的至少一个孔网络,其中,每个孔网络包括所述每个孔网络对应的主干连接孔、与所述主干连接孔连接的至少一个接收单元和用于连接所述主干连接孔和所述至少一个接收单元的至少一个连接结构;基于所述至少一个孔网络,生成目标设计交换格式文件;基于所述目标设计交换格式文件对所述时钟网络进行信号线电迁移检查。
例如,在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中,基于所述至少一个主干连接孔,生成与所述至少一个主干连接孔一一对应的至少一个孔网络,包括:针对所述至少一个主干连接孔中的第i个主干连接孔:确定所述多个接收单元中与所述第i个主干连接孔连接的N个接收单元;确定与所述N个接收单元一一对应的N个连接结构,其中,所述N个接收单元中的每个接收单元通过所述N个连接结构中的一个连接结构与所述第i个主干连接孔连接;基于所述第i个主干连接孔、所述N个接收单元和所述N个连接结构,生成与所述第i个主干连接孔对应的孔网络,其中,N和i均为正整数。
例如,在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中,每个连接结构还包括至少一个次级连接孔。
例如,在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中,基于所述至少一个孔网络,生成目标设计交换格式文件,包括:获取初始设计交换格式文件,其中,所述初始设计交换格式文件包括所述时钟网络的描述信息;将所述时钟网络的描述信息从所述初始设计交换格式文件中删除;将所述至少一个主干连接孔分别对应设置至少一个初级引脚;在所述初始设计交换格式文件中添加所述至少一个初级引脚分别对应的至少一个引脚描述和所述至少一个孔网络分别对应的至少一个网络描述,以得到所述目标设计交换格式文件。
例如,在本公开至少一个实施例提供的信号线电迁移检查方法中,所述初始设计交换格式文件包括引脚部分和网络部分,在所述初始设计交换格式文件中添加所述至少一个初级引脚分别对应的至少一个引脚描述和所述至少一个孔网络分别对应的至少一个网络描述,包括:添加所述至少一个引脚描述至所述初始设计交换格式文件的引脚部分;添加所述至少一个网络描述至所述初始设计交换格式文件的网络部分。
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