[发明专利]一种基于测量Dpar值的物源分析方法

说明书

本发明提供了一种基于测量Dpar值的物源分析方法。通过测量沉积区和源区样品的裂变径迹Dpar值；然后采用多维尺度分析法对得到的Dpar值进行分组，得到分组数据，以Dpar值为参数，匹配沉积区和源区具有相同Dpar值特征的分组数据构建沉积区‑源区耦合模型，就可以精确圈定物源区及其岩石类型、确定沉积物来源，使得物源分析更加精确可信。而且本发明的物源分析方法仅需测定样品的Dpar值就可以准确得到物源分析结果，在测量Dpar值过程中无需对样品进行热中子辐照，得到Dpar值耗时短，有效解决了传统测定裂变径迹年龄进行物源分析过程中需将分析样品送往原子核反应堆进行热中子辐照或辐照耗时长且有放射性的缺陷。

技术领域

本发明涉及物源分析技术领域，具体涉及一种基于测量Dpar值的物源分析方法。

背景技术

目前存在沉积学方法、岩石学与矿物学方法、元素地球化学方法、地质年代学方法、粘土矿物学方法、裂变径迹法、化石及生标化合物方法及地球物理学方法等物源分析技术。这些方法都存在一些局限并影响物源分析的精度，如沉积学方法统计工作量较大且物源判断结果模糊，无法确定物源区的具体位置、母岩性质等具体信息；岩石学方法对物源的判断受到经验和较多随机因素影响；矿物学法受到水动力和成岩作用的影响较大；元素地球化学方法和地球物理学方法存在多解性等。裂变径迹法分析物源区是利用磷灰石、锆石中所含的微量铀裂变时在晶格中产生的辐射损伤，经一系列化学处理后，形成径迹，通过观测径迹的密度、长度等分布，并对其加以统计分析，从中提取与物源区的年龄及构造演化有关的信息。裂变径迹法需要将样品送原子核反应推进行热中子辐照，国内热中子辐照条件比较欠缺且耗时非常长，送国外辐照则受到国外机构的诸多制约，且经辐照后的样品需经较长时间的放置直至辐射的放射性减弱，对人体无害后才可进行下一步操作，实验周期长，时间成本高。

发明内容

本发明的目的在于，针对现有技术的上述不足，提供一种基于测量Dpar值的物源分析方法。

为实现上述目的，本发明采用如下的技术方案：

本发明提供了一种基于测量Dpar值的物源分析方法，包括以下步骤：

S1、采集沉积区和源区样品；

S2、测量步骤S1得到的样品的Dpar值；

S3、实施数据分析

采用多维尺度分析法对步骤S2得到的Dpar值进行分组，得到分组数据，以Dpar值为参数，匹配沉积区和源区具有相同Dpar值特征的分组数据构建沉积区-源区耦合模型，得到物源分析结果；

进一步的，步骤S1中，所述样品包括沉积物中挑选出的磷灰石矿物；

进一步的，步骤S2中，测量磷灰石样品的Dpar值的过程包括：通过对磷灰石样品进行制靶、抛光、和蚀刻操作，进行反射光下Dpar长度测量，所有所述Dpar长度的算术平均值为Dpar值。

进一步的，所述Dpar长度为与磷灰石结晶C轴平行的、与抛光面相交的所述裂变径迹蚀刻坑的最大直径。

进一步的，步骤S1中，测量样品Dpar值的过程包括以下步骤：

步骤S11、制靶：用含环氧树脂的溶液调胶，将磷灰石颗粒均匀撒在模具底部，室温下凝固；

步骤S12、抛光：依次使用800#、1200#、2400#的砂纸和不同粒径的金刚砂进行抛光；

步骤S13、硝酸蚀刻：配制5.5±0.1mol/L的硝酸蚀刻液，控制硝酸蚀刻液温度为21±1℃，将步骤S12得到的磷灰石样品浸入硝酸蚀刻液中20±1s后取出并洗净；使用ZEISSAxio Imager显微镜观察统计单个磷灰石颗粒的裂变径迹蚀刻坑图形；