[发明专利]一种芯片验证方法、系统及装置

说明书

本发明提供了一种芯片验证方法、系统及装置，所述方法包括采用随机激励对待验芯片进行功能测试；在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。本发明在芯片验证过程中，采用随机激励与定向激励相结合的方式进行芯片功能的验证测试，可以达到加速验证收敛，加快验证进度的目的，从而提高验证效率。采用代码生成器生成标准验证平台，再根据待验设计相关参数，生成完整验证平台，在项目测试和项目迭代过程中，能够大量减少验证工程师的工作量。同时帮助验证新人快速理解UVM平台验证机理，把主要精力放在验证工作中，进一步提高验证效率。

技术领域

本发明涉及芯片验证技术领域，尤其是一种芯片验证方法、系统及装置。

背景技术

芯片设计过程中，传统的验证方法是对待测设计添加特定的激励，在仿真完成后，通过自动比对或人工方式查看结果文件和波形，确定仿真结果与预期结果是否一致。随着电路的集成度和复杂度的提升，传统验证方法虽然平台搭建简单，但后续仿真实施过程中会耗费大量时间，因此迫切需要掌握先进的验证方法，以提高验证效率。

当前在芯片验证过程中，激励生成器根据特定的约束产生测试激励，通过传统的验证环境或UVM平台搭建的验证环境将生成的激励施加给待验设计，仿真完成后，提取仿真结果并进行自动比对或通过手工方式查看结果文件和波形，确定待验设计的仿真结果与预期是否一致。

根据第一轮仿真结果和覆盖率信息修改激励生成器中的约束文件，重新生成激励文件，对设计进行回归测试，如此循环往复，直到达到验证要求为止。随着芯片集成度不断提高，传统验证方法会花费大量时间。

发明内容

本发明提供了一种芯片验证方法、系统及装置，用于解决现有芯片验证效率低的问题。

为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明第一方面提供了一种芯片验证方法，所述方法包括以下步骤：

采用随机激励对待验芯片进行功能测试；

在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。

进一步地，所述采用随机激励对待验芯片进行功能测试之前还包括步骤：

采用代码生成器生成UVM验证平台。

进一步地，所述采用代码生成器生成UVM验证平台的具体过程为：

生成验证平台所需的验证组件；

根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的UVM验证平台。

进一步地，所述验证组件包括env、agent、sequence、sequencer、driver、monitor、scoreboard和interface。

进一步地，所述功能测试包括对先入先出队列FIFO的测试，具体测试内容有FIFO深度测试、FIFO位宽测试、FIFO空满判断测试、FIFO写满后继续写功能测试、FIFO读空后继续读测试以及FIFO复位状态测试。

进一步地，所述收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试具体为：

若所述覆盖率显示除了FIFO写满后继续写数功能外，其余功能均已验证完毕，则定向测试激励生成器生成FIFO写满后继续写数激励，对该功能进行针对性验证。

本发明第二方面提供了一种芯片验证系统，所述系统包括：

随机验证单元，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；

定向验证单元，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。

进一步地，所述系统还包括：