[发明专利]一种芯片验证方法、系统及装置

权利要求书

1.一种芯片验证方法，其特征是，所述方法包括以下步骤：

采用随机激励对待验芯片进行功能测试；

在覆盖率达到预设程度后，收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。

2.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征是，所述采用随机激励对待验芯片进行功能测试之前还包括步骤：

采用代码生成器生成UVM验证平台。

3.根据权利要求2所述芯片验证方法，其特征是，所述采用代码生成器生成UVM验证平台的具体过程为：

生成验证平台所需的验证组件；

根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的UVM验证平台。

4.根据权利要求3所述芯片验证方法，其特征是，所述验证组件包括env、agent、sequence、sequencer、driver、monitor、scoreboard和interface。

5.根据权利要求1所述芯片验证方法，其特征是，所述功能测试包括对先入先出队列FIFO的测试，具体测试内容有FIFO深度测试、FIFO位宽测试、FIFO空满判断测试、FIFO写满后继续写功能测试、FIFO读空后继续读测试以及FIFO复位状态测试。

6.根据权利要求5所述芯片验证方法，其特征是，所述收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试具体为：

若所述覆盖率显示除了FIFO写满后继续写数功能外，其余功能均已验证完毕，则定向测试激励生成器生成FIFO写满后继续写数激励，对该功能进行针对性验证。

7.一种芯片验证系统，其特征是，所述系统包括：

随机验证单元，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；

定向验证单元，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。

8.根据权利要求7所述芯片验证系统，其特征是，所述系统还包括：

环境配置单元，采用代码生成器生成UVM验证平台，具体为生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的UVM验证平台。

9.一种芯片验证装置，其特征是，所述装置包括：

随机测试激励生成器，采用随机激励对待验芯片进行功能测试；

定向测试激励生成器，用于收集测试结果的覆盖率信息，对未完成验证的功能进行定向激励测试。

10.根据权利要求9所述芯片验证装置，其特征是，所述装置还包括代码生成器，所述代码生成器生成验证平台所需的验证组件；根据当前待验芯片的功能，根据对应参数添加自定义代码，形成对应当前待验芯片的UVM验证平台。