[发明专利]一种解压缩芯片验证方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本申请公开了一种解压缩芯片验证方法、装置、设备及可读存储介质。本申请可以生成一个压缩块的各组成部分，且各个组成部分基于随机约束条件随机生成，因此可使压缩数据的码长随机出现，可以随机出各种码长，如：较长码长、较短码长、不长也不短的码长等。因此得到的压缩数据能随机覆盖较长码长、较短码长、不长也不短的码长等各种情况，那么，用得到的压缩块对解压缩芯片进行验证，就可以使解压缩芯片能够对极端码长情况以及常规码长情况都进行验证测试，从而提升解压缩芯片的验证全面性和效率。相应地，本申请提供的一种解压缩芯片验证装置、设备及可读存储介质，也同样具有上述技术效果。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别涉及一种解压缩芯片验证方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

目前，可以使用定向验证方式和随机验证方式对解压缩芯片进行验证和测试。但是，定向验证方式和随机验证方式都难以覆盖极端码长情况，即：难以使解压缩芯片对较长码长和较短码长的压缩数据进行测试。

定向验证方式基于解压缩芯片的设计功能点设计，其侧重于验证解压缩芯片的各个功能点是否可以正常运算，未考虑解压缩芯片对各种压缩码长的覆盖情况。随机验证方式可以随机生成待压缩数据，能够使解压缩芯片测试各种随机数据。但是，随机验证方式随机生成的是待压缩数据，对其压缩后，得到的压缩数据仍难以出现较长码长和较短码长，一般需要消耗大量的时间，才可能产生一个较长码长或较短码长的压缩数据。

因此，如何测试解压缩芯片对极端码长的压缩数据的解压缩能力，是本领域技术人员需要解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本申请的目的在于提供一种解压缩芯片验证方法、装置、设备及可读存储介质，以测试解压缩芯片对极端码长的压缩数据的解压缩能力。其具体方案如下：

第一方面，本申请提供了一种解压缩芯片验证方法，包括：

确定与解压缩芯片中的解压缩运算匹配的无损压缩算法，并确定基于所述无损压缩算法压缩得到的一个压缩块的各个组成部分；

按照预设的随机约束条件生成每个组成部分分别对应的随机值；

按照所述无损压缩算法的压缩数据格式和各个随机值生成目标压缩块，并利用所述目标压缩块对所述解压缩芯片进行验证。

可选地，所述随机约束条件用于约束压缩数据的码长出现概率呈正态分布或均衡分布。

可选地，所述按照所述无损压缩算法的压缩数据格式和各个随机值生成目标压缩块，包括：

按照各个随机值确定各个压缩片段；

按照所述压缩数据格式拼接各个压缩片段中的有效比特，得到目标压缩块。

可选地，所述按照所述压缩数据格式拼接各个压缩片段中的有效比特，得到目标压缩块，包括：

按照所述压缩数据格式将各个压缩片段按序排列，得到目标序列；

设定可扩展字节数的压缩数据流，该压缩数据流在初始状态下不包括任何有效比特；

从所述目标序列的首位置开始，针对每个压缩片段执行下述步骤：确定当前压缩片段中的有效比特数及当前压缩数据流中的空比特数，若所述有效比特数不大于所述空比特数，则用当前压缩片段中的有效比特填充当前压缩数据流中的空比特；否则，控制当前压缩数据流的字节数递增，并用当前压缩片段中的有效比特填充当前压缩数据流中的空比特；

将最终得到的压缩数据流作为所述目标压缩块。

可选地，所述利用所述目标压缩块对所述解压缩芯片进行验证，包括：

将所述目标压缩块输入所述解压缩芯片，以使所述解压缩芯片输出第一解压缩数据；