[发明专利]平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质在审
申请号: | 202210106350.0 | 申请日: | 2022-01-28 |
公开(公告)号: | CN114441866A | 公开(公告)日: | 2022-05-06 |
发明(设计)人: | 丁一;周鑫宇;李雷;闻家毅;欧新菊 | 申请(专利权)人: | 广东恒沃技术有限公司 |
主分类号: | G01R29/10 | 分类号: | G01R29/10 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 | 代理人: | 陈春芹 |
地址: | 523000 广东省东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 近场 测量 装置 误差 估计 方法 设备 存储 介质 | ||
本申请提供了一种平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质,涉及天线测量技术领域,包括从预设的天线列表中确定至少一个用于评估待测天线的标准天线;根据标准天线的样本数据中最接近待测天线的第一容忍误差的第二容忍误差及第三容忍误差,分别确定第一机械误差参数、第二机械误差参数,以确定第三机械误差参数;根据样本数据的天线采样数据,计算第三机械误差参数对应的第四容忍误差;重复第三机械误差参数的选取及第四容忍误差的计算直至第四容忍误差与第一容忍误差的差值满足预设条件;根据最终的第三机械误差参数,确定平面近场测量装置的安装参考参数。设备及存储介质应用该方法,能快速确定安装参考参数搭建测试环境。
技术领域
本申请涉及天线测量技术领域,特别是涉及一种平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质。
背景技术
平面近场测量是应用一个已知特性的电小天线或者探头,在距离待测天线某一位置的平面上采集待测天线的幅相分布,然后经过理论计算得到远场的辐射性能。实际测量过程中,待测天线的幅相分布受测量装置的探头安装误差、步进电机等机械误差的影响,导致采集到的幅相分布的远场辐射性能数据不可靠,且由于不同天线类型的容忍误差的差异,导致同一平面近场测量装置的探头安装误差、步进电机的误差均要对不同天线进行预判才可进行测量,而探头安装误差、步进电机的误差对于工程师而言,很难做到实时误差评估。
发明内容
本申请旨在至少解决相关技术中存在的技术问题之一。为此,提出一种平面近场测量装置的误差估计方法、设备及存储介质,能降低测量装置的机械误差的估算难度。
根据本申请第一方面实施例的平面近场测量装置的误差估计方法,所述方法包括:
根据待测天线的天线数据,从预设的天线列表中确定至少一个标准天线;其中,所述标准天线的增益以及频段,与所述天线数据中的增益以及频段最接近;
根据最接近所述天线数据的第一容忍误差的,所述标准天线的样本数据中的第二容忍误差以及第三容忍误差,分别确定所述第二容忍误差对应的第一机械误差参数、所述第三容忍误差对应的第二机械误差参数,其中,所述第一容忍误差位于所述第二容忍误差、所述第三容忍误差之间;
按照预设的选取算法对对应的所述第一机械误差参数、所述第二机械误差参数进行处理,确定第三机械误差参数;
根据所述样本数据中的天线采样数据,计算对应的所述第三机械误差参数对应的第四容忍误差;
当所述第四容忍误差与所述第一容忍误差的差值不满足预设条件,重新确定第三机械误差参数并重新进行第四容忍误差的计算直至重新计算得到的所述第四容忍误差与所述第一容忍误差的差值满足预设条件;
在满足所述预设条件时,根据对应的所述第四容忍误差对应的第三机械误差参数,确定平面近场测量装置的安装参考参数。
根据本申请第二方面实施例的一种电子设备,所述电子设备包括:
至少一个处理器,以及,与所述至少一个处理器通信连接的存储器;其中,所述存储器存储有指令,所述指令被所述至少一个处理器执行,以使所述至少一个处理器执行所述指令时实现如第一方面任一所述的平面近场测量装置的误差估计方法。
根据本申请第三方面实施例的一种计算机存储介质,包括存储有计算机可执行指令,所述计算机可执行指令用于执行如第一方面任一所述的平面近场测量装置的误差估计方法。
根据本申请的上述实施例,至少具有如下有益效果:通过确定与待测天线的规格参数中频段、增益最接近的标准天线,从而可以通过该标准天线的样本数据中的天线采样数据计算得到不同机械误差参数下对应的容忍误差,从而确定满足预设条件的第三机械误差,此时,工程师可以将第三机械误差作为安装参考参数搭建测试环境,从而降低测量装置的机械误差的估算难度。
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