[发明专利]基于切片法的预制构件逆向建模与质量控制方法在审
| 申请号: | 202210104963.0 | 申请日: | 2022-01-28 |
| 公开(公告)号: | CN114529596A | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
| 发明(设计)人: | 徐照;梁阳泽;丁幼亮 | 申请(专利权)人: | 东南大学 |
| 主分类号: | G06T7/521 | 分类号: | G06T7/521;G06T3/00;G06T3/40;G06T17/10;G06Q10/06 |
| 代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 姜慧勤 |
| 地址: | 210096 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 基于 切片 预制构件 逆向 建模 质量 控制 方法 | ||
1.基于切片法的预制构件逆向建模与质量控制方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤1,获取装配式建筑预制构件表面三维点云数据;
步骤2,对步骤1获取的三维点云数据进行预处理,区分平面点与边界点,并去除三维点云数据中的离散点和噪点;
步骤3,根据预处理后的点云数据设置一条参考线,沿参考线对装配式建筑预制构件进行切片分割,提取每一切片的高度信息,并将切片投影到二维平面得到二维切片平面;
步骤4,利用弦高差算法,从二维切片平面的外围轮廓上的点中提取特征点;
步骤5,将步骤4提取出的特征点连起来得到各切片的二维轮廓,将各切片的二维轮廓依据切片的高度信息拉伸成三维切片,将所有的三维切片按照原切片位置进行组合,形成逆向重建模型;
步骤6,对步骤5得到的逆向重建模型以及预制构件正向设计的BIM模型进行配准,按照质量控制要求进行分析综合,利用数据可视化的手段,评估装配式预制构件的质量是否符合要求。
2.根据权利要求1所述的基于切片法的预制构件逆向建模与质量控制方法,其特征在于,所述步骤1中,采用激光扫描仪获取的是.asc格式的预制构件表面三维点云数据。
3.根据权利要求2所述的基于切片法的预制构件逆向建模与质量控制方法,其特征在于,所述步骤2中,将.asc格式的预制构件表面三维点云数据转换为.obj格式,采用K最近邻分类算法对.obj格式的三维点云数据进行预处理。
4.根据权利要求1所述的基于切片法的预制构件逆向建模与质量控制方法,其特征在于,所述步骤3的具体过程如下:
步骤3.1,在预制构件的上表面预设一条参考线,建立三维直角坐标系定位预制构件,使预制构件的其中一个侧面位于YOZ平面,位于YOZ平面的侧面与拟切分的横切面平行,预设的参考线方向为X轴方向,在参考线所在的表面上随机下采样10%的点来拟合参考线,将随机下采样的点投影到XOY平面上,对XOY平面上投影得到的点进行拟合,通过最小化平方误差,得到唯一的二次多项式;
其中,平方误差公式为:
式中,E为平方误差,n为投影到XOY平面上得到的投影点的数量,yi为投影到XOY平面上得到的投影点的y坐标,p(xi)为第k次多项式的内插值;
将p(xi)表示为以下线性方程组:
式中,xi为投影到XOY平面上得到的点的x坐标,a0,a1,…,ak为系数;
令对Y=XA等号两边同时乘以XT,即XTY=XTXA,对矩阵方程XTY=XTXA进行逆变换得到:
A=(XTX)-1XTY,nk
根据得到的A构造n个投影点中相邻两个投影点的内插点,即得到n-1个内插点,根据内插点拟合参考线,并计算参考线上每个内插点的切线,各内插点的切线斜率为:
tan tj=f(x)′
式中,tan tj为第j个内插点对应的切线斜率,f(x)为内插点拟合得到的参考线;
沿各内插点的法线方向对预制构件进行切分,将预制构件分成n个切片;
步骤3.2,设定每个切片沿着它的切线方向是直线,并且切片的横切面保持不变,将每个切片绕Z轴旋转:
式中,(x,y,z)为切片上点的坐标,(x′,y′,z′)为切片上点旋转后的坐标,为第j个切片的旋转角度,旋转角度为每个切片对应的法线方向与三维直角坐标系Y轴的夹角,利用每个切片对应的切线的中心点计算每个切片对应的法线方向;
利用旋转后切片上点的x坐标提取每个切片的高度信息,并切片投影到二维平面。
5.根据权利要求1所述的基于切片法的预制构件逆向建模与质量控制方法,其特征在于,所述步骤4的具体过程如下:
对于二维切片平面的外围轮廓上的点,采用弦高差算法确定每个点是否为特征点,具体如下:
对于第j个二维切片平面外围轮廓上的第m个点Pm,选取与其相邻的两个点Pm-1和Pm+1构造直线L:Amx+Bmy+Cm=0,计算点Pm到直线L的垂直距离dm,当dm大于等于设定阈值σ时,点Pm为特征点并进行提取;
式中,(xm,ym)为点Pm的坐标,Am、Bm、Cm为直线L的系数,Mj为第j个二维切片平面外围轮廓上点的数量,dm为第j个二维切片平面外围轮廓上第m个点的弦高差距离。
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