[发明专利]一种太阳能电池的制备方法及太阳能电池在审
申请号: | 202210101174.1 | 申请日: | 2022-01-27 |
公开(公告)号: | CN114497282A | 公开(公告)日: | 2022-05-13 |
发明(设计)人: | 吕国剑;郑波 | 申请(专利权)人: | 东方日升新能源股份有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/068;H01L31/0216 |
代理公司: | 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 | 代理人: | 彭月 |
地址: | 315600 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 太阳能电池 制备 方法 | ||
本申请提供一种太阳能电池的制备方法及太阳能电池,属于太阳能电池技术领域。太阳能电池的制备方法,包括:在硅片正面形成绝缘薄膜,再在硅片的背面形成隧穿氧化层;在隧穿氧化层的表面沉积非晶硅层并进行磷掺杂,再将掺磷的非晶硅层转变成掺磷多晶硅层,其中,掺磷多晶硅层绕镀于绝缘薄膜并形成绕镀区域;以及制作电极,其中,在绝缘薄膜的表面制作正电极时,使正电极与绕镀区域间隔分布。该制备方法在无需进行去除绕镀工序的情况下,能有效缓解绕镀带来的漏电问题。
技术领域
本申请涉及太阳能电池技术领域,具体而言,涉及一种太阳能电池的制备方法及太阳能电池。
背景技术
随着传统资源的日益枯竭,太阳能电池作为新型可替代能源,以其自身绿色、安全及可再生能力的优势得到了长足发展。在目前的太阳能电池光伏发电应用中,N型电池以更高的发电效率受到了行业的热捧;其中,N型TOPCon电池(隧穿氧化层钝化接触太阳能电池)已经陆续量产。在制作N型TOPCon电池的工艺中,有一步关键工艺,即在隧穿氧化层表面进行非晶硅沉积。
在现有技术中,不论是采用LPCVD(低压力化学气相沉积法)还是采用PECVD(等离子体增强化学的气相沉积法)沉积非晶硅,通常都会在电池的正面和边缘留下绕镀,从而产生较大的漏电情况。
目前的一些研究中,在制作TOPCon电池时,为了解决漏电问题,通常增加去除绕镀区域的工序。然而,去除绕镀区域的工序通常工序繁琐,且会产生较高的成本,不利于生产效率和生产成本的控制。
发明内容
本申请的目的在于提供一种太阳能电池的制备方法及太阳能电池,在无需进行去除绕镀工序的情况下,能有效缓解绕镀带来的漏电问题。
本申请的实施例是这样实现的:
第一方面,本申请实施例提供一种太阳能电池的制备方法,包括:
在硅片的正面形成绝缘薄膜,再在硅片的背面形成隧穿氧化层;
在隧穿氧化层的表面沉积非晶硅层并进行磷掺杂,再将掺磷的非晶硅层转变成掺磷多晶硅层,其中,掺磷多晶硅层绕镀于绝缘薄膜并形成绕镀区域;以及
制作电极,其中,在绝缘薄膜的表面制作正电极时,使正电极与绕镀区域间隔分布。
上述技术方案中,先在硅片的正面形成绝缘薄膜,使得非晶硅沉积时绕镀的位置在绝缘薄膜的边缘和表面,最终使得掺磷多晶硅层的绕镀区域绕镀并形成于隧穿氧化层。由于绝缘薄膜具有绝缘的作用,该绝缘薄膜间隔在绕镀区域与硅片之间,能避免绕镀区域与硅片正面发生电性接触而产生漏电。在进一步制作电极的过程中,控制正电极与绕镀区域间隔分布,能避免正电极与绕镀区域发生电性接触而产生漏电。
该制备方法在无需进行去除绕镀工序的情况下,能有效缓解绕镀带来的漏电问题。因此,在生产工艺中,可以减少去除绕镀工序,能够提高生产效率并降低生产成本,有利于批量化生产。
在一些可选的实施方案中,制作电极的步骤中,采用预设网版在绝缘薄膜的表面制作正电极;
其中,预设网版的栅线印刷边缘与绝缘薄膜的边缘之间的间距为3~4mm,以使正电极与绕镀区域间隔分布。
上述技术方案中,控制栅线印刷边缘与绝缘薄膜的边缘之间保持合适的间距,在有效保证正电极与绕镀区域间隔分布的同时,还能使正电极保留合适的印刷面积。
在一些可选的实施方案中,绝缘薄膜包括层叠分布的氮化硅层和氮氧化硅层。
上述技术方案中,将氮化硅层和氮氧化硅层进行层叠配合,使得绝缘薄膜能够较好地发挥隔绝绕镀区域与硅片的作用;同时,能够较好地发挥正面钝化减反射的作用,有利于提高太阳能电池的光电转换性能。
在一些可选的实施方案中,在硅片的正面形成绝缘薄膜的步骤包括:
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于东方日升新能源股份有限公司,未经东方日升新能源股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202210101174.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的