[发明专利]一种芯片检验追踪方法及系统

权利要求书

1.一种芯片检验追踪系统，其特征在于，包括上位机、数据上传模块、参数检测模块、任务分析模块、设备追踪模块以及若干芯片；

所述参数检测模块包括控制底板、总线通讯单元和分别与若干芯片电连接的检测单元，其中检测单元与控制底板均通过总线通讯单元分别与上位机进行通讯连接；每个芯片均带有设备标识；

当参数检测模块批量检测多个芯片时，所述数据上传模块用于检测员上传检测请求至上位机，其中检测请求携带有若干个检测任务数据包；

所述上位机用于将若干个检测任务数据包通过总线通讯单元分发至检测单元，其中每个检测任务数据包内设置有若干不同的检测任务；具体为：

获取根据各芯片的检测需求设定的检测策略，并根据检测策略向不同的检测单元下发相应的检测任务数据包，以使各个检测单元分别根据各自获取的检测任务数据包对相应的芯片进行性能检测；其中检测策略用于确定检测任务数据包内设置的检测任务类型和检测任务数量；

所述任务分析模块与上位机相连接，用于根据上位机存储的带有时间戳的检测数据对各检测任务进行检测值分析，并将检测任务的检测值GX反馈至上位机存储；具体分析过程如下：

根据时间戳，获取系统当前时间前三十天的检测数据，获取检测数据中对应的检测任务；统计检测任务的检测总次数为C1，将对应检测任务的不合格占比标记为Zb1；截取最近一次该检测任务不合格时间与系统当前时间之间的时间区间为缓冲区间，统计缓冲区间内检测数据的出现次数为缓冲次数F1；

利用公式GX=(C1×a1+Zb1×a2)/(F1×a3)计算得到对应检测任务的检测值GX，其中a1、a2、a3均为系数因子；

所述参数检测模块用于根据多个检测任务数据包分别对多个芯片进行性能检测，并将检测数据发送至上位机，具体步骤为：

所述控制底板分别向每个检测单元下发一个开始检测指令；响应于接收到开始检测指令，由检测单元解析接收到的检测任务数据包内容，获取检测任务数据包内的若干检测任务；

自动从上位机内获取各个检测任务的检测值GX，根据检测值GX大小依次执行对应的检测任务，并将检测数据发送至上位机；

其中，在将检测数据发送至上位机之前，还包括：

判断当前检测任务是否合格；若当前检测任务测试合格，则判断对应检测任务数据包内设置的若干检测任务是否均执行完毕；若是，则生成合格信号并将对应的检测数据发送至上位机；否则，执行下一检测任务；

若当前检测任务测试不合格，则生成不合格信号并将对应的检测数据发送至上位机；其中检测数据均带有设备标识；

所述设备追踪模块用于获取参数检测模块生成的带有同一设备标识的检测数据进行设备追踪分析，判断对应设备是否有生产不合格芯片的趋势；具体分析步骤如下：

采集参数检测模块生成的带有同一设备标识的检测数据，所述检测数据携带有合格信号和不合格信号；当监测到不合格信号时，自动倒计数，倒计数为D1，D1为预设值；每采集一个检测数据，则倒计数减一；

在倒计数阶段继续对不合格信号进行监测，若监测到新的不合格信号，则倒计数自动归为原值，重新按照D1进行倒计数；否则，继续倒数；

在倒计数阶段，若不合格信号的出现次数达到预设第一数量或者预定比例或者连续不合格信号的出现次数达到预设第二数量时，确定对应设备存在生产不合格芯片的趋势，生成设备异常信号；

所述设备追踪模块用于将设备异常信号发送至关联的移动终端，以提醒移动终端的管理人员对该设备进行检修。

2.一种芯片检验追踪方法，应用于如权利要求1所述的一种芯片检验追踪系统，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一：当参数检测模块批量检测多个芯片时，检测员通过数据上传模块上传检测请求至上位机；

步骤二：响应于接收到检测请求，由上位机获取根据各芯片的检测需求设定的检测策略，并根据检测策略向不同的检测单元下发相应的检测任务数据包和开始检测指令；

步骤三：响应于接收到开始检测指令，由检测单元解析接收到的检测任务数据包内容，按照检测值GX大小依次执行检测任务数据包内设置的若干检测任务，并将检测数据发送至上位机；

步骤四：获取参数检测模块生成的带有同一设备标识的检测数据进行设备追踪分析，判断对应设备是否有生产不合格芯片的趋势。

3.根据权利要求2所述的一种芯片检验追踪方法，其特征在于，判断对应设备是否有生产不合格芯片的趋势的具体过程如下：

采集带有同一设备标识的检测数据，当监测到不合格信号时，自动倒计数；在倒计数阶段，若不合格信号的出现次数达到预设第一数量或者预定比例或者连续不合格信号的出现次数达到预设第二数量时，确定对应设备存在生产不合格芯片的趋势，生成设备异常信号。