[发明专利]测量合金相界面强度的方法在审
申请号: | 202210045079.4 | 申请日: | 2022-01-14 |
公开(公告)号: | CN114544283A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 潘艳;赵泉;谭长生;张国君 | 申请(专利权)人: | 西安理工大学 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N1/32;G01N23/203;G01N3/42 |
代理公司: | 西安弘理专利事务所 61214 | 代理人: | 王丹 |
地址: | 710048 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 金相 界面 强度 方法 | ||
1.测量合金相界面强度的方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1、对合金进行热处理,得到含有相界面组织的合金样品;
步骤2、对所述合金样品表面进行处理,显示出合金的微观组织;
步骤3、对步骤2处理后的合金样品表面划分成若干区域,并进行标记;
步骤4、对步骤3处理后的合金样品表面进行晶粒位向测试,获得样品表面的晶粒位向分布图;
步骤5、根据步骤3得到样品表面标记及步骤4得到的晶粒位向分布图,选择在同一位向晶粒内部,加工包含不同相、不同类型相界面的同尺寸微米尺度样品;
步骤6、对所述微米尺寸样品进行压缩变形,获得压缩应力-应变曲线,进而得到每个微米尺寸样品的屈服强度;
步骤7、根据步骤6得到的每个微米尺寸样品的屈服强度,利用样品强度混合法则计算得出不同相界面的强度。
2.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤2中所述对合金样品表面进行处理的方法为电解抛光和金相腐蚀。
3.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤4中采用EBSD测试分析法对步骤3处理后的合金样品表面进行晶粒位向测试。
4.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤5中在同一位向晶粒内部使用FIB技术加工微米尺寸样品。
5.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤6中的压缩变形通过纳米压入仪器控制完成。
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