[发明专利]测量合金相界面强度的方法在审

专利信息
申请号: 202210045079.4 申请日: 2022-01-14
公开(公告)号: CN114544283A 公开(公告)日: 2022-05-27
发明(设计)人: 潘艳;赵泉;谭长生;张国君 申请(专利权)人: 西安理工大学
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N1/32;G01N23/203;G01N3/42
代理公司: 西安弘理专利事务所 61214 代理人: 王丹
地址: 710048 陕*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 测量 金相 界面 强度 方法
【权利要求书】:

1.测量合金相界面强度的方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1、对合金进行热处理,得到含有相界面组织的合金样品;

步骤2、对所述合金样品表面进行处理,显示出合金的微观组织;

步骤3、对步骤2处理后的合金样品表面划分成若干区域,并进行标记;

步骤4、对步骤3处理后的合金样品表面进行晶粒位向测试,获得样品表面的晶粒位向分布图;

步骤5、根据步骤3得到样品表面标记及步骤4得到的晶粒位向分布图,选择在同一位向晶粒内部,加工包含不同相、不同类型相界面的同尺寸微米尺度样品;

步骤6、对所述微米尺寸样品进行压缩变形,获得压缩应力-应变曲线,进而得到每个微米尺寸样品的屈服强度;

步骤7、根据步骤6得到的每个微米尺寸样品的屈服强度,利用样品强度混合法则计算得出不同相界面的强度。

2.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤2中所述对合金样品表面进行处理的方法为电解抛光和金相腐蚀。

3.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤4中采用EBSD测试分析法对步骤3处理后的合金样品表面进行晶粒位向测试。

4.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤5中在同一位向晶粒内部使用FIB技术加工微米尺寸样品。

5.根据权利要求1所述的测量合金相界面强度的方法,其特征在于,步骤6中的压缩变形通过纳米压入仪器控制完成。

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