[发明专利]状态指示控件的显示控制方法、装置和电子设备在审
申请号: | 202210033627.1 | 申请日: | 2022-01-12 |
公开(公告)号: | CN114549606A | 公开(公告)日: | 2022-05-27 |
发明(设计)人: | 尹健维 | 申请(专利权)人: | 网易(杭州)网络有限公司 |
主分类号: | G06T7/40 | 分类号: | G06T7/40;G06T7/60;G06T11/00 |
代理公司: | 北京市京大律师事务所 11321 | 代理人: | 何少岩 |
地址: | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 状态 指示 控件 显示 控制 方法 装置 电子设备 | ||
1.一种状态指示控件的显示控制方法,其特征在于,所述方法包括:
获取待显示的状态指示控件中刻度线的显示密度和显示宽度;
基于所述刻度线的显示密度和显示宽度,确定所述状态指示控件中隔断单元的宽度;其中,所述状态指示控件中包括多个依次连续显示的所述隔断单元;所述隔断单元中包括刻度线显示部分和纹理采样部分;所述刻度线显示部分用于显示预设的刻度线显示内容;所述纹理采样部分用于显示从目标纹理图片中采样的内容;
基于所述隔断单元的宽度,确定所述状态指示控件中的像素在所述像素所属的隔断单元中的位置,基于所述位置确定所述像素的显示内容;
基于所述像素的显示内容,控制显示所述状态指示控件。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取待显示的状态指示控件中刻度线的显示密度的步骤,包括:
基于待显示的状态指示控件的最大状态值,以及每个刻度对应的状态单位值,确定所述状态指示控件中刻度线的显示密度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述隔断单元的宽度,确定所述状态指示控件中的像素在所述像素所属的隔断单元中的位置,基于所述位置确定所述像素的显示内容的步骤,包括:
确定像素在所述状态指示控件中的第一轴向坐标;
将所述第一轴向坐标对所述隔断单元的宽度取模,得到取模结果;将所述取模结果确定为所述像素在所述像素所属的隔断单元中的第二轴向坐标;
基于所述第二轴向坐标确定所述像素的显示内容。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述隔断单元中,第一轴向坐标范围对应所述隔断单元中的刻度线显示部分,第二轴向坐标范围对应所述隔断单元中的纹理采样部分;所述基于所述第二轴向坐标确定所述像素的显示内容的步骤,包括:
确定所述第二轴向坐标所属的轴向坐标范围;
如果所述第二轴向坐标属于所述第一轴向坐标范围,确定所述像素的显示内容为所述刻度线显示部分显示的刻度线显示内容;
如果所述第二轴向坐标属于所述第二轴向坐标范围,确定所述像素的显示内容为所述纹理采样部分显示的从目标纹理图片中采样的内容。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,确定所述第二轴向坐标所属的轴向坐标范围的步骤,包括:
确定所述隔断单元的宽度与所述刻度线的显示宽度之间的差值;
基于所述第二轴向坐标与所述差值之间的大小关系,确定所述第二轴向坐标所属的轴向坐标范围。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,如果所述第二轴向坐标属于所述第二轴向坐标范围,确定所述像素的显示内容为所述纹理采样部分显示的从目标纹理图片中采样的内容的步骤,包括:
获取预设的放大倍数,对所述目标纹理图片的坐标进行放大处理;
将放大后的所述目标纹理图片的各个位置的坐标映射至所述第二轴向坐标范围,得到所述第二轴向坐标对应的所述目标纹理图片中的采样位置;
将所述采样位置上的显示内容确定为所述像素的显示内容。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所述像素的显示内容,控制显示所述状态指示控件的步骤,包括:
在初始状态下,所述状态指示控件显示最大状态值对应的第一显示内容;其中,在所述第一显示内容中,除所述刻度线以外,从所述目标纹理图片中采样的内容填充满所述状态指示控件;
响应于状态值减少事件,确定当前状态值;
控制所述状态指示控件显示所述当前状态值对应的第二显示内容;其中,在所述第二显示内容中,除所述刻度线以外,从所述目标纹理图片中采样的内容填充部分所述状态指示控件。
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