[发明专利]柔性近红外陷波片及其制作工艺和应用于文物检测的方法及系统

说明书

本发明公开了一种柔性近红外陷波片及其制作工艺和应用于文物检测方法及系统，所述柔性近红外陷波片，包括基底以及设置于基底上的复合膜，所述复合膜包括若干层膜，所述复合膜为折射率不同的材料按照交替多层膜结构构成；所述相邻膜的折射率不同；复合膜包括第一折射率膜、第二折射率膜；所述第一折射率膜为高折射率膜，所述第二折射率膜为低折射率膜。本发明提供的柔性近红外陷波片单独设计，可贴合多种文物表面，根据文物实际的光谱选择特征峰位，降低了光谱法监测文物的测量设备要求，加工过程可靠稳定。且使用过程中不会对文物本体产生有害影响，由于相对于可见光透明，所以不会对文物外观产生影响；本发明有利于更好地实现文物监测，更好地推进文物防盗防破坏工作的进行。

技术领域

本发明涉及文物检测技术领域，特别是一种柔性近红外陷波片及其制作工艺和文物检测的方法及系统。

背景技术

近些年来，文物保护工作越来越受到国家和社会的关注，但当前我国文物保护情况十分严峻，很多文物特别像是古建筑、石窟寺、石刻、壁画、近代现代重要史迹等不可移动文物时常会遭到恶意破坏或部分失窃，并且极难修复或追回，通过光谱监控法监测文物本体的光谱实现文物的实时监控，但是该方法所用到的高光谱相机价格高昂，而对特定频段进行测量的多光谱相机则相较价格较低，因此研究一种能对文物进行特定频段标识并进行监控的器件十分重要。

同时，由于很多文物本体的光谱并不具有独特的光谱峰位，造成在使用多光谱监测文物时无法通过文物本体的特征峰来识别文物；此外，对于材质比较脆弱的文物例如木质文物，特种频谱材料还需要做到对文物本体无损害；文物复杂多变的外观要求器件在安装时具备足够的灵活性，对文物的外观无影响。现在传统的红外陷波片都是基于刚性基底，很难做到灵活安装。针对以上问题，本次应用于文物特种频谱标识的柔性近红外陷波片可以做到对特定峰位进行文物的标记，对文物无损害，能灵活安装，对文物的外观无影响，且该方法未见相关报道。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种柔性近红外陷波片及其制作工艺和文物检测方法及系统，该柔性近红外陷波片可以应用于文物检测，通过柔性近红外陷波片设置的频谱标识快速检测文物存在状态。

为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

本发明提供的柔性近红外陷波片，包括基底以及设置于基底上的复合膜，所述复合膜包括若干层膜，所述复合膜为折射率不同的材料按照交替多层膜结构构成；所述相邻膜的折射率不同。

进一步，所述复合膜包括第一折射率膜、第二折射率膜；

所述第一折射率膜的折射率大于第二折射率膜的折射率；

所述第一折射率膜为高折射率膜，所述第二折射率膜为低折射率膜。

进一步，所述第一折射率膜为TiO₂膜，所述第二折射率膜为SiO₂膜；

所述TiO₂膜的折射率为2.0-2.4；

所述SiO₂膜的折射率为1.52-1.55；

所述TiO₂膜的厚度为10nm-500nm；

所述SiO₂膜的厚度为10nm-200nm。

本发明提供的柔性近红外陷波片的制作工艺，所述柔性近红外陷波片是通过磁控溅射设备镀制形成，包括以下步骤：

S1：确定基底、第一折射率材料和第二折射率材料及其加工参数；

S2：根据选定的第一折射率材料、第二折射率材以及预设陷波波段料确定膜层厚度和膜层层数；

S3：将第一折射率靶材和第二折射率靶材分别放入对应靶腔；