[发明专利]导电性二维粒子及其制造方法在审
申请号: | 202180053101.3 | 申请日: | 2021-08-27 |
公开(公告)号: | CN116096669A | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
发明(设计)人: | 坂本宙树;小柳雅史;柳町章麿 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | B82Y30/00 | 分类号: | B82Y30/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 韩聪 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电性 二维 粒子 及其 制造 方法 | ||
1.一种导电性二维粒子,是包含1个层、或包含1个层和多个层的层状材料的导电性二维粒子,其中,
所述层包括:
由下式:MmXn表示的层主体,
式中,M是至少一种的第3、4、5、6、7族金属,
X是碳原子、氮原子或碳原子和氮原子的组合,
n为1以上且4以下,
m为大于n并在5以下;
存在于该层主体的表面的修饰或末端T,
T是从羟基、氟原子、氯原子、氧原子和氢原子所构成的群中选择的至少一种,
所述层的M与从PO43-、I和SO42-所构成的群中选择的至少一种结合,
氯与溴的合计含有率为1500质量ppm以下,
所述导电性二维粒子的二维面的长径的平均值为1.0μm以上。
2.根据权利要求1所述的导电性二维粒子,其中,满足从磷原子的含有率为0.20质量%以上且14质量%以下、碘原子的含有率为1.0质量%以上且60质量%以下、和硫原子的含有率为0.03质量%以上且18质量%以下所构成的群中选择的至少1个。
3.根据权利要求1或2所述的导电性二维粒子,其中,厚度的平均值为5nm以下。
4.一种导电性二维粒子的制造方法,其中,包括:
(a)准备由下式:MmAXn表示的前驱体,
式中,M是至少一种的第3、4、5、6、7族金属,
X是碳原子、氮原子或碳原子和氮原子的组合,
A是至少一种的第12、13、14、15、16族元素,
n为1以上且4以下,
m为大于n并在5以下;和
(b)使用蚀刻液,从所述前驱体蚀刻A原子,所述蚀刻液满足从H3PO4浓度为5.5M以上、HI浓度为5.0M以上、和H2SO4浓度为5.0M以上所构成的群中选择的至少1个。
5.根据权利要求4所述的导电性二维粒子的制造方法,其中,在所述(b)的蚀刻之后,进行插层处理和分层处理。
6.一种导电性薄膜,其含有权利要求1~3中任一项所述的导电性二维粒子。
7.一种导电膏,其含有权利要求1~3中任一项所述的导电性二维粒子。
8.一种导电性复合材料,其含有权利要求1~3中任一项所述的导电性二维粒子和树脂。
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