[实用新型]一种半导体设备自动检测装置有效

专利信息
申请号: 202123405383.5 申请日: 2021-12-31
公开(公告)号: CN217521308U 公开(公告)日: 2022-09-30
发明(设计)人: 王迪杏;王宁;王金裕 申请(专利权)人: 无锡迪渊特科技有限公司
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26;G01R1/02;G01R1/04;H05K7/20
代理公司: 无锡苏元专利代理事务所(普通合伙) 32471 代理人: 张剑锋
地址: 214000 江苏省无锡市新*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 半导体设备 自动检测 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种半导体设备自动检测装置,包括防护盒,所述防护盒的两侧内壁均开设有滑槽,所述防护盒的内部活动安装有检测器,所述防护盒的上表面活动安装有挡板,所述挡板的上表面一侧固定安装有卡块,所述防护盒的后表面活动安装有散热管,所述散热管的内部固定安装有散热扇,所述防护盒的一侧下方固定安装有连接块,所述连接块为U形结构,所述连接块的两侧内壁之间固定安装有连接柱,所述连接柱的外表面活动安装有卡箍,所述卡箍的一端固定安装有卡齿。本实用新型使自动检测装置具有更好的散热功能,便于安装,并且使自动检测装置具有更好的防护结构,能够有效的对内部的检测装置进行保护,具有实用性。

技术领域

本实用新型涉及检测装置的技术领域,特别涉及一种半导体设备自动检测装置。

背景技术

半导体器件是导电性介于良导电体与绝缘体之间,利用半导体材料特殊电特性来完成特定功能的电子器件,可用来产生、控制、接收、变换、放大信号和进行能量转换。半导体器件的半导体材料是硅、锗或砷化镓,可用作整流器、振荡器、发光器、放大器、测光器等,自动检测装置则是通过传感器来检测半导体器件运转数据的装置,然后通过显示器使其显现出来;

现有的检测装置存在一定缺陷,检测装置往往会不间断的进行检测,因此内部会产生一定的热量,往往检测装置并不具有散热结构,仅仅通过自身的散热口进行散热,散热效果不好,同时,现有的检测装置不具有防护功能,容易因为碰撞而损坏,因此,现在提出一种半导体设备自动检测装置。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种半导体设备自动检测装置,可以有效解决背景技术中的问题。

为实现上述目的,本实用新型采取的技术方案为:

一种半导体设备自动检测装置,包括防护盒,所述防护盒的两侧内壁均开设有滑槽,所述防护盒的内部活动安装有检测器,所述防护盒的上表面活动安装有挡板,所述挡板的上表面一侧固定安装有卡块,所述防护盒的后表面活动安装有散热管,所述散热管的内部固定安装有散热扇,所述防护盒的一侧下方固定安装有连接块,所述连接块为U形结构,所述连接块的两侧内壁之间固定安装有连接柱,所述连接柱的外表面活动安装有卡箍,所述卡箍的一端固定安装有卡齿,所述卡箍的外表面插设有插板,所述防护盒的前表面活动安装有盒盖,所述防护盒的另一侧固定安装有对接块。

优选的,所述防护盒与盒盖之间固定安装有合页,所述盒盖通过合页与防护盒活动连接。

优选的,所述卡箍的外表面、位于卡齿的下方开设有插槽,所述插板插设在插槽的内部。

优选的,所述防护盒的上表面一侧固定安装有卡扣,所述卡扣和卡块卡合连接。

优选的,所述检测器的两侧下表面均固定安装有滑块,所述滑块滑动安装在滑槽的内部。

优选的,所述对接块的上、下表面开设有卡槽,所述卡箍的另一端贯穿对接块、位于卡槽的内部。

与现有技术相比,本实用新型具有如下有益效果:

1、通过设置的散热管、散热扇、连接块、连接柱、卡箍、卡齿、插槽、插板、对接块和卡槽使自动检测装置具有更好的散热功能,在传统自然通风的基础上增加了风扇散热的效果,同时固定方法简单便捷,能够有效的将装置固定在设备上,提高了检测设备的使用寿命;

2、通过设置的盒盖、滑块、滑槽、卡扣、挡板和卡块使自动检测装置具有防护结构,能够有效的对内部的检测装置进行保护,避免意外磕碰而导致检测装置损坏,且防护结构便于拆装更换,能够快速的对内部进行检修,具有实用性。

附图说明

图1为本实用新型一种半导体设备自动检测装置的整体结构示意图;

图2为本实用新型一种半导体设备自动检测装置中卡箍与连接块的连接结构示意图;

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