[实用新型]一种晶圆转移工具有效
申请号: | 202123304432.6 | 申请日: | 2021-12-24 |
公开(公告)号: | CN216597529U | 公开(公告)日: | 2022-05-24 |
发明(设计)人: | 周科群;罗立辉;陈建江 | 申请(专利权)人: | 宁波芯健半导体有限公司 |
主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 315336 浙江省宁波市杭*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 转移 工具 | ||
本发明涉及半导体制备的技术领域,尤其是涉及一种晶圆转移工具。其包括晶圆卡塞以及转移夹抓,所述晶圆卡塞包括卡塞框以及对称设置于卡塞框的两侧的限位条,所述卡塞框的上端面开设有放置槽,所述放置槽的槽壁开设有若干供晶圆放置的圆弧状卡槽;所述转移夹抓包括控制杆以及对称设置于控制杆的下端部的限位部,所述限位部的下端面开设有限位槽,所述限位槽的开槽处设置有限位块,所述限位条穿设于所述限位槽内,所述限位条的下端面与所述限位块的上端面抵接。本申请具有改善转移晶圆卡塞的操作难度的效果。
技术领域
本发明涉及半导体制备的技术领域,尤其是涉及一种晶圆转移工具。
背景技术
在晶圆封装测试的过程中,经常需要对晶圆进行转移。其中,如果直接通过手进行转移的话,晶圆很有可能因为手部接触而发生污染或者受到静电伤害。而如果通过真空吸笔进行转移的话,真空吸笔很有可能对晶圆本身造成刮伤。
因此,目前通常会将若干个晶圆放置于晶圆卡塞内进行转移,且为了减少晶圆之间的相互磨损,通常会将晶圆卡塞内开设多个相互平行的卡槽,从而对不同晶圆进行分隔并支撑。
但是,当需要对晶圆进行清洗时,需要将装满晶圆的晶圆卡塞完全浸泡于清洗液中。然而,在浸泡或者拿取晶圆卡塞时,工作人员的手部将不得不伸入清洗液中,存在转移晶圆卡塞的操作较为繁琐的缺陷。
实用新型内容
为了改善转移晶圆卡塞的操作难度,本申请提供一种晶圆转移工具。
本申请提供的一种晶圆转移工具采用如下的技术方案:
一种晶圆转移工具,包括晶圆卡塞以及转移夹抓,所述晶圆卡塞包括卡塞框以及对称设置于卡塞框的两侧的限位条,所述卡塞框的上端面开设有放置槽,所述放置槽的槽壁开设有若干供晶圆放置的圆弧状卡槽;所述转移夹抓包括控制杆以及对称设置于控制杆的下端部的限位部,所述限位部的下端面开设有限位槽,所述限位槽的开槽处设置有限位块,所述限位条穿设于所述限位槽内,所述限位条的下端面与所述限位块的上端面抵接。
通过采用上述技术方案,当需要对装满晶圆的晶圆卡塞进行转移时,工作人员可以将限位条穿设于限位槽内,然后将限位条的下端面与限位块的上端面抵接,随后工作人员便可以向上提起控制杆,而控制杆通过限位块带动晶圆卡塞同步移动,省去工作人员将手伸入浸泡液的操作,有效降低工作人员转移晶圆卡塞的操作难度。
可选的,所述限位条的一端设置有定位部,所述定位部靠近限位条的一侧与所述限位块的侧壁抵接。
通过采用上述技术方案,由于定位部的设置,所以当限位条穿设限位槽时,定位部可以对限位块进行限位,有效减少限位部完全脱离限位条的可能性,间接提高转移夹抓对晶圆卡塞的转移稳定性。
可选的,所述限位块的上端面设置有弹性定位件,所述限位条的下端面沿其长度方向开设有若干定位槽,所述弹性定位件活动插接于所述定位槽内。
通过采用上述技术方案,在限位条穿设限位槽的过程中,工作人员可以将弹性定位件插接于定位槽内,此时,定位槽的槽壁可以通过弹性定位件限制转移夹抓的移动,有效减少限位部从限位条的两端完全脱离的可能性,进一步提高转移夹抓对晶圆卡塞的转移稳定性。
可选的,所述弹性定位件包括弹性片以及设置于弹性片的端部的定位块,所述限位块的上端面贯穿开设有供弹性定位件容置的形变槽,所述弹性片远离所述定位块的一端固定连接于所述形变槽的槽壁上,所述定位块活动插接于所述定位槽内。
通过采用上述技术方案,当需要对限位部的位置进行限位时,工作人员可以拨动弹性片从促使弹性片向下发生形变,随后将限位条穿设于限位槽内,当定位块滑移至指定定位槽的位置时,工作人员便可以松开弹性片,而定位块则在弹性片的回弹作用下自动插接于定位槽内,有效降低锁定限位部的操作难度。
可选的,所述定位块靠近所述定位部的一侧设置有导向面,所述导向面向靠近所述定位部的方向逐渐向下倾斜。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造