[实用新型]一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构有效
| 申请号: | 202123011562.0 | 申请日: | 2021-12-02 |
| 公开(公告)号: | CN216488069U | 公开(公告)日: | 2022-05-10 |
| 发明(设计)人: | 施宁萍;周炳;翁加付;毛建达 | 申请(专利权)人: | 宁波海特创电控有限公司 |
| 主分类号: | H01L29/40 | 分类号: | H01L29/40;H01L29/778;H01L21/335 |
| 代理公司: | 宁波浙成知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 33268 | 代理人: | 陈敏垚 |
| 地址: | 315500 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 si gan hemt 空气 板结 | ||
1.一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:包括Si衬底(1)、GaN缓冲层(2)、AlGaN势垒层(3)、源极(4)、漏极(5)、栅极(6)、SiN钝化层(7)以及空气桥场板(8),所述Si衬底(1)、GaN缓冲层(2)、AlGaN势垒层(3)以及SiN钝化层(7)由下至上依次层叠设置,所述源极(4)的底部穿过SiN钝化层(7)与AlGaN势垒层(3)后与GaN缓冲层(2)的第一端相接触,所述漏极(5)的底部穿过SiN钝化层(7)与AlGaN势垒层(3)后与GaN缓冲层(2)的第二端相接触,所述源极(4)、漏极(5)以及GaN缓冲层(2)形成欧姆接触,所述栅极(6)被SiN钝化层(7)覆盖,并设置在源极(4)与漏极(5)之间的AlGaN势垒层(3)上,所述栅极(6)与AlGaN势垒层(3)形成肖特基接触,所述空气桥场板(8)的第一端设置在源极(4)上,所述空气桥场板(8)的第二端绕过栅极(6)设置在SiN钝化层(7)上。
2.根据权利要求1所述的一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:所述Si衬底(1)的厚度为500nm。
3.根据权利要求1所述的一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:所述GaN缓冲层(2)与AlGaN势垒层(3)均通过金属有机化学气相沉积法(MOCVD)制作而成,所述GaN缓冲层(2)的厚度为2μm,所述AlGaN势垒层(3)的厚度为20nm。
4.根据权利要求1所述的一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:所述源极(4)与漏极(5)采用的金属材料均为Ti/Al/Ni/Au,金属厚度为20/130/50/150nm,所述栅极(6)采用的金属材料为Ni/Au,金属厚度为50/150nm。
5.根据权利要求1所述的一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:所述栅极(6)与源极(4)之间的间距为10-15μm,所述栅极(6)与漏极(5)之间的间距为20-30μm。
6.根据权利要求1所述的一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:所述SiN钝化层(7)与AlGaN势垒层(3)采用低压化学气相沉积法(LP-CVD)沉积而成,所述SiN钝化层(7)的厚度为150nm。
7.根据权利要求1所述的一种Si基GaN HEMT的空气桥场板结构,其特征在于:所述空气桥场板(8)采用金属材料为Au制作成n字形结构。
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