[实用新型]一种轴类工件键槽对称度测量装置有效
| 申请号: | 202121668508.0 | 申请日: | 2021-07-22 |
| 公开(公告)号: | CN214842980U | 公开(公告)日: | 2021-11-23 |
| 发明(设计)人: | 华古春;陈阳;程秀秀 | 申请(专利权)人: | 东阳市联宜机电有限公司 |
| 主分类号: | G01B5/252 | 分类号: | G01B5/252 |
| 代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司 33241 | 代理人: | 林君勇 |
| 地址: | 322100 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 工件 键槽 对称 测量 装置 | ||
本实用新型涉及一种轴类工件键槽对称度测量装置,属于键槽对称度测量技术领域。一种轴类工件键槽对称度测量装置,包括底座,所述底座上设有用于将工件水平固定的装夹机构,所述底座上还设有用于使工件键槽上下端面保持水平的限位机构,所述限位机构包括能相对于工件轴向平行移动的平移座以及能相对所述平移座上下升降且水平设置的限位杆,所述限位杆被间接或直接旋转支撑于所述平移座上,所述底座上活动设有与所述限位杆同侧的高度尺。本实用新型具有能够在进行第二次测量时迅速调整工件的朝向进行找平,从而能够缩短第二次测量时找平的时间,简化操作,提高测量的效率等优点。
技术领域
本实用新型涉及一种轴类工件键槽对称度测量装置,属于键槽对称度测量技术领域。
背景技术
目前,轴类工件键槽对称度误差测量主要有两种方法,即三坐标测量法、定位块法(或称假键法)。利用定位块法需要进行两次测量,即把被测工件翻转180°后进行第二次测量,然后将两次测量值的差值代入公式进行计算。现有中国专利号为201110181957.7,专利名称为一种联轴器键槽对称度检测方法的专利,公开了一种联轴器键槽对称度检测方法,其有益效果是其采用五面体加工机床工作台作为检测的平台,由于五面体加工机床与与横梁平行精度高,其能有效避免以往普通检测平台本体精度对检测的影响。但其还存在以下缺点:工件翻转180°后进行第二次测量时仍需重复第一次测量时的步骤进行找平,操作繁琐,测量效率低等问题。
实用新型内容
本实用新型目的在于提供一种轴类工件键槽对称度测量装置,解决了现有技术中存在的工件翻转180°后进行第二次测量时仍需重复第一次测量时的步骤进行找平,操作繁琐,测量效率低等问题。
本实用新型的上述技术目的主要是通过以下技术方案解决的:一种轴类工件键槽对称度测量装置,包括底座,所述底座上设有用于将工件水平固定的装夹机构,所述底座上还设有用于使工件键槽上下端面保持水平的限位机构,所述限位机构包括能相对于工件轴向平行移动的平移座以及能相对所述平移座上下升降且水平设置的限位杆,所述限位杆被间接或直接旋转支撑于所述平移座上,所述底座上活动设有与所述限位杆同侧的高度尺。
本实用新型装置使用时,首先通过装夹机构初步将工件水平固定,然后控制平移座相对工件轴向平行移动,使限位杆正对工件键槽,再控制限位杆转动使其端部伸入工件键槽内,然后控制限位杆向上运动同时调整工件的朝向,直到限位杆端部顶面与工件键槽上端面紧密贴合完成找平,找平之后通过装夹机构将工件固定锁死,再将高度尺的测量端调整至与工件的轴线同一高度,再控制高度尺的测量端伸入工件键槽内,然后控制高度尺的测量端下降至与工件键槽下端面接触,记录该测量值,然后控制高度尺的测量端复位至与工件的轴线同一高度的位置,并控制限位杆转动使其端部从工件键槽内移出,限位杆的高度位置始终保持不变,然后将工件翻转180°后再次通过装夹机构水平固定,然后控制平移座相对工件轴向平行移动,使限位杆正对工件键槽,再控制限位杆转动使其端部伸入工件键槽内,然后根据限位杆的高度迅速调整工件的朝向,直到限位杆端部顶面与工件翻转180°后的键槽上端面紧密贴合完成找平,再控制高度尺的测量端伸入工件键槽内,然后控制高度尺的测量端下降至与工件翻转180°后的键槽下端面接触,记录该测量值,即可测得工件键槽的对称度,对称度值为两次测量值差值的绝对值,由此能够方便、快捷地测出工件键槽的对称度误差,并且由于第二次测量时限位杆的高度位置保持不变,使得能够迅速调整工件的朝向进行找平,从而能够缩短第二次测量时找平的时间,简化操作,进而提高测量的效率。
作为优选,所述限位机构还包括固设于所述底座上且与工件轴向平行的导轨,所述平移座被滑动支撑于所述导轨上,所述平移座顶部转动设有向上延伸的旋转座,所述旋转座上固设有竖直设置的支撑杆,所述限位杆被滑动支撑于所述支撑杆上。
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