[实用新型]光纤陀螺光学组件测试系统

说明书

本实用新型提供一种光纤陀螺光学组件测试系统，包括测试装置，测试装置用于测试待测组件，测试装置中设有内置耦合器、内置光源、内置Y波导、内置探测器和合束器，内置耦合器设有至少三个连接端，内置耦合器的三个连接端分别连接内置光源、内置Y波导和合束器，内置探测器与合束器连接；能够测试光纤陀螺生产组装的各阶段不同的组件，通过对照的方式，判断出新增零件对于原组件的影响，不必单独测试零件便能准确的测试出各单独零件的性能。

技术领域

本实用新型涉及光纤测试领域，尤其是涉及一种光纤陀螺光学组件测试系统。

背景技术

现代光纤陀螺仪是一种能够精确地确定运动物体方位的仪器，它是现代航空，航海，航天和国防工业中广泛使用的一种惯性导航仪器，它的发展对一个国家的工业，国防和其它高科技的发展具有十分重要的战略意义。零漂是衡量光纤陀螺精度的最重要、最基本的指标，产生零漂的主要因素是沿光纤分布的环境温度变化在光纤线圈内引入的非互易性相移误差，因此在光纤陀螺生产时需要测试温度对于光纤陀螺各组件的影响。由于光纤陀螺精度要求较高，在生产组装的各阶段需要对已组装的光纤陀螺组件进行多次测试，以测试温度对各新增零件的影响，如1#-“光纤环”、2#-“Y波导+光纤环”、3#-“耦合器+Y波导+光纤环”、4#-“光源+耦合器+Y波导+光纤环”、5#-“探测器+耦合器+Y波导+光纤环”、6#-“光源+探测器+耦合器+Y波导+光纤环”，等共六种常见的光路组件形式，其中，6#-“光源+探测器+耦合器+Y波导+光纤环”为常规的光纤陀螺仪的完全形态。

根据现有技术201610703910.5光纤陀螺用光纤环温度性能的测试系统中的记载，该系统通过其设计，能够实现1～3个光纤环的温度测试，不能对“光纤环+Y波导”组件和“光纤环+Y波导+耦合器”组件进行测试；根据现有技术201610933044.9一种光纤陀螺光纤环温变特性测量方法及装置中的记载，该装置通过该方法和装置能够获得光纤环的温变特性，待测件为光纤环，而不能对多种组件进行测试；根据现有技术201611236425.8多功能可调节光纤陀螺调试及光纤环测试装置及使用方法中的记载，该装置主要是将陀螺测试和光纤环测试（适应各种尺寸的光纤环）相结合，而不能对多种组件进行测试。

现有技术参见202010013826.7光纤陀螺多组件测试系统，该方案主要测试1#-“光纤环”、2#-“Y波导+光纤环”、3#-“耦合器+Y波导+光纤环”，本方案加以改进，减少了一个探测器的同时能够兼容4#-“光源+耦合器+Y波导+光纤环”、5#-“探测器+耦合器+Y波导+光纤环”、6#-“光源+探测器+耦合器+Y波导+光纤环”的测试。现有技术参见引用专利号引用专利名中记载的结构，引用专利缺点。

实用新型内容

本实用新型提供了一种光纤陀螺光学组件测试系统，解决了光纤陀螺生产组装的各阶段不同的组件的测试的问题。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：一种光纤陀螺光学组件测试系统，包括测试装置，测试装置用于测试待测组件，测试装置中设有内置耦合器、内置光源、内置Y波导、内置探测器和合束器，内置耦合器设有至少三个连接端，内置耦合器的三个连接端分别连接内置光源、内置Y波导和合束器，内置探测器与合束器连接。

优选的方案中，测试装置中还设有信号处理、控制及输出电路，信号处理、控制及输出电路中设有光路驱动电路A、光路驱动电路B、信号采集电路A、信号采集电路B和闭环反馈电路，光路驱动电路A与内置光源连接，信号采集电路A与内置探测器连接，闭环反馈电路与内置Y波导连接。

优选的方案中，测试装置设有多个尾纤，尾纤用于与待测组件连接，内置Y波导设有尾纤A和尾纤B，内置耦合器设有尾纤C，合束器设有尾纤D。

优选的方案中，待测光路组件包括第一待测组件，第一待测组件中设有光纤环，光纤环两端分别与尾纤A和尾纤B连接。