[实用新型]芯片检测置物盒及芯片检测装置

权利要求书

1.一种芯片检测置物盒，其特征在于，包括：

装载部，所述装载部用于装载所述芯片；

所述装载部设置有多个连接框；多个所述连接框贯穿于所述装载部；

底座，所述底座设置有多个突起，在所述装载部设置在所述底座上的情况下，多个所述突起用于穿过多个所述连接框，将所述芯片的一端顶起。

2.根据权利要求1所述的芯片检测置物盒，其特征在于，所述装载部包括：

槽体，所述槽体用于放置所述芯片；

所述多个连接框位于所述槽体的槽底。

3.根据权利要求2所述的芯片检测置物盒，其特征在于，所述槽体包括：

放置部，所述放置部用于放置所述芯片；

安装部，所述安装部形成于所述放置部的周侧。

4.根据权利要求3所述的芯片检测置物盒，其特征在于：

所述槽体为多个；和/或

每个所述放置部至少设置有两个连接框，所述连接框位于所述放置部的两端。

5.根据权利要求1所述的芯片检测置物盒，其特征在于：

所述突起的一端设置有支撑面，所述支撑面倾斜设置，所述支撑面用于支撑所述芯片的底面。

6.根据权利要求1所述的芯片检测置物盒，其特征在于，所述底座包括：

支撑块，所述支撑块设置在所述底座上。

7.一种芯片检测装置，其特征在于，包括：权利要求1至6中任一项所述的芯片检测置物盒。

8.根据权利要求7所述的芯片检测装置，其特征在于，包括：

芯片检测显微镜，所述芯片检测显微镜包括：

载物台，所述载物台设置有旋转部，所述旋转部设置有安装槽，所述芯片检测置物盒放置在所述安装槽内；

旋转轴，可转动地设置在所述载物台的一侧；

检测部，所述检测部通过所述旋转轴铰接于所述载物台。

9.根据权利要求8所述的芯片检测装置，其特征在于，所述载物台包括：

第一对位标记，所述第一对位标记设置在所述载物台上；

第二对位标记，所述第二对位标记设置在所述旋转部上；

当所述第一对位标记和所述第二对位标记对齐时，所述芯片的待检测端平行于所述旋转轴的轴线方向。

10.根据权利要求9所述的芯片检测装置，其特征在于，所述检测部包括：

目镜，所述目镜的设置方向垂直于所述旋转轴的轴线方向。