[实用新型]一种测高打光测量结构

说明书

本实用新型涉及测量工具技术领域，特指一种测高打光测量结构，包括固定架，固定架上设有用于固定待测物料的定位机构，定位机构的上方设用于测量待测物料的镜头组件，定位机构的下方设有用于提供测量物料的平面尺寸时的平行背光光源，定位机构的四周设有用于提供测量物料的高度尺寸时的正光光源，定位机构的下方还设有与正光光源对应设置的反光板，反光板的旁边设有对应设置的棱镜。采用这样的结构设置，通过镜头组件与平行背光光源配合使用，可以用于测量待测物料的平面尺寸，通过镜头组件与正光光源、反光板以及棱镜配合使用，可以用于测量待测物料的高度尺寸，同时使用正光折射方式代替现有技术使用背光直射打光的方式，便于节省空间。

技术领域

本实用新型涉及测量工具技术领域，特指一种测高打光测量结构。

背景技术

目前，测量物料高度时，由于物料大多采用水平放置，因此需要采用水平放置镜头组件进行测量，由于使用背光直射打光的方式测量，导致放置背光空间不够，需要占用很大的空间才可以。

实用新型内容

针对上述问题，本实用新型提供了一种测高打光测量结构，有效解决现有技术的不足。

为了实现上述目的，本实用新型应用的技术方案如下：

一种测高打光测量结构，包括固定架，固定架上设有用于固定待测物料的定位机构，定位机构的上方设用于测量待测物料的镜头组件，定位机构的下方设有用于提供测量物料的平面尺寸时的平行背光光源，定位机构的四周设有用于提供测量物料的高度尺寸时的正光光源，定位机构的下方还设有与正光光源对应设置的反光板，反光板的旁边设有对应设置的棱镜。

根据上述方案，所述镜头组件垂直设置于定位机构的上方，镜头组件包括镜头与相机。

本实用新型有益效果：

本实用新型采用这样的结构设置，通过镜头组件与平行背光光源配合使用，可以用于测量待测物料的平面尺寸，通过镜头组件与正光光源、反光板以及棱镜配合使用，可以用于测量待测物料的高度尺寸，同时使用正光折射方式代替现有技术使用背光直射打光的方式，便于节省空间。

附图说明

图1是本实用新型整体结构装配图；

图2是本实用新型用于测量物料的平面尺寸状态图；

图3是本实用新型用于测量物料的平面尺寸光路示意图；

图4是本实用新型用于测量物料的高度尺寸状态图；

图5是本实用新型用于测量物料的高度尺寸光路示意图。

1.镜头组件；2.正光光源；3.固定架；4.平行背光光源；5.定位机构；6.待测物料；8.反光板；9.棱镜；

具体实施方式

下面结合附图与实施例对本实用新型的技术方案进行说明。

如图1至图5所示，本实用新型所述一种测高打光测量结构，包括固定架3，固定架3上设有用于固定待测物料6的定位机构5，定位机构5的上方设用于测量待测物料6的镜头组件1，定位机构5的下方设有用于提供测量物料的平面尺寸时的平行背光光源4，定位机构5的四周设有用于提供测量物料的高度尺寸时的正光光源2，定位机构5的下方还设有与正光光源2对应设置的反光板8，反光板8的旁边设有对应设置的棱镜9。以上所述构成本实用新型基本结构。

本实用新型采用这样的结构设置，通过镜头组件1与平行背光光源4配合使用，可以用于测量待测物料6的平面尺寸，通过镜头组件1与正光光源2、反光板8以及棱镜9配合使用，可以用于测量待测物料6的高度尺寸，同时使用正光折射方式代替现有技术使用背光直射打光的方式，便于节省空间。

在本实施例中，所述镜头组件1垂直设置于定位机构5的上方，镜头组件1包括镜头与相机。

以上结合附图对本实用新型的实施例进行了描述，但本实用新型并不局限于上述的具体实施方式，上述的具体实施方式仅仅是示意性的，而不是限制性的，本领域的普通技术人员在本实用新型的启示下，在不脱离本实用新型宗旨和权利要求所保护的范围情况下，还可做出很多形式，这些均属于本实用新型的保护范围之内。