[实用新型]一种测高打光测量结构有效
| 申请号： | 202121378300.5 | 申请日： | 2021-06-21 |
| 公开（公告）号： | CN216049691U | 公开（公告）日： | 2022-03-15 |
| 发明（设计）人： | 陈宝;彭修武 | 申请（专利权）人： | 深圳市智信精密仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 深圳市徽正知识产权代理有限公司 44405 | 代理人： | 卢杏艳 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市龙华区*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 测高 打光 测量 结构 | ||
【权利要求书】：
1.一种测高打光测量结构，包括固定架(3)，其特征在于：所述固定架(3)上设有用于固定待测物料(6)的定位机构(5)，所述定位机构(5)的上方设用于测量待测物料(6)的镜头组件(1)，所述定位机构(5)的下方设有用于提供测量物料的平面尺寸时的平行背光光源(4)，所述定位机构(5)的四周设有用于提供测量物料的高度尺寸时的正光光源(2)，所述定位机构(5)的下方还设有与正光光源(2)对应设置的反光板(8)，所述反光板(8)的旁边设有对应设置的棱镜(9)。
2.根据权利要求1所述的一种测高打光测量结构，其特征在于：所述镜头组件(1)垂直设置于定位机构(5)的上方，所述镜头组件(1)包括镜头与相机。
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