[实用新型]一种测量夹具有效

专利信息
申请号: 202120863549.9 申请日: 2021-04-25
公开(公告)号: CN215064203U 公开(公告)日: 2021-12-07
发明(设计)人: 吴逸文;李东霖;黄志强 申请(专利权)人: 广州宏晟光电科技股份有限公司
主分类号: G01B5/02 分类号: G01B5/02
代理公司: 广州嘉权专利商标事务所有限公司 44205 代理人: 张萍
地址: 510925 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 夹具
【说明书】:

实用新型公开了一种测量夹具,涉及测量技术领域,包括:底座,具有第一凹槽,所述第一凹槽用于放置光纤面板,所述第一凹槽的深度小于所述光纤面板第一台阶的高度;表座,安装在所述底座上,所述表座具有第二凹槽,所述第二凹槽设置于所述表座的底部,所述表座的底面用于与第一台阶的端面接触;固定块,安装于所述表座上;以及测量装置,安装于所述固定块上,所述测量装置用于测量所述端面与所述光纤面板的顶面之间高度。由于表座的底部的第二凹槽卡在光纤面板的第一台阶的端面上,对光纤面板采用了环形定位的方式,解决了因测量点不同而造成的误差问题,提高了对光纤面板的第二台阶高度测量的准确性。

技术领域

本实用新型涉及测量技术领域,特别涉及一种测量夹具。

背景技术

光纤面板作为一种应用在微光夜视的光学元件,它具有特殊的形状要求,如图1示出了几种常规的光纤面板外形结构。参见图4至图7,光纤面板是一种具有台阶状的产品,因此在产品加工过程和完成品检验时均需要对产品的台阶高度进行检测,如图中的X尺寸。

目前常用的对光纤面板台阶高度的测量方案是利用千分表进行测量,首先将产品放到测量平台上,将测量顶针放到台阶上,清零千分表,然后将测量顶针放到产品上表面,读取千分表数值即为台阶高度。

在上面的测量方案中,利用千分表测量顶针分别在光纤面板上取两点进行测量得出台阶高度,该方案操作起来较简单,但缺点是无法实现精确测量,受到取点位置的影响,采取不同点得出的测量结果存在一定的误差,尤其是当台阶面具有倾斜或者平面具有平行差时,测量结果将不具有准确性。

实用新型内容

本实用新型旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此,本实用新型提出一种测量夹具,提高对光纤面板的第二台阶高度测量的准确性。

本实用新型的第一方面实施例的测量夹具,包括:底座,具有第一凹槽,所述第一凹槽用于放置光纤面板,所述第一凹槽的深度小于所述光纤面板第一台阶的高度;表座,安装在所述底座上,所述表座具有第二凹槽,所述第二凹槽设置于所述表座的底部,所述表座的底面用于与第一台阶的端面接触;固定块,安装于所述表座上;以及测量装置,安装于所述固定块上,所述测量装置用于测量所述端面与所述光纤面板的顶面之间高度。

在进一步的实施例中,所述底座具有第三凹槽,所述第三凹槽用于放置所述表座,所述表座与所述第三凹槽为间隙配合。

在进一步的实施例中,所述底座的侧面设置有缺口,所述表座的侧面安装有定位光轴,所述缺口与所述定位光轴匹配。

在进一步的实施例中,所述缺口的数量为多个,多个所述缺口均匀分布在所述底座的侧面。

在进一步的实施例中,所述缺口的数量为三个,三个所述缺口呈120°分布在所述底座的侧面。

在进一步的实施例中,所述测量装置包括千分表,所述千分表具有测量顶针,所述测量顶针与所述光纤面板的顶面接触。

在进一步的实施例中,所述固定块偏心设置于所述表座上。

在进一步的实施例中,所述底座设置有沉头孔。

本实用新型实施例的测量夹具,至少具有如下有益效果:测量前对测量装置进行归零设置。测量时,把光纤面板放置在第一凹槽上,将表座的底部卡在光纤面板的第一台阶的端面上,再计算测量装置至光纤面板顶面的距离,进而得出第一台阶的端面与光纤面板顶面之间的高度,即得出光纤面板的第二台阶的高度。表座的底面卡在光纤面板的第一台阶的端面上,第二台阶凸起部分被第二凹槽容纳,使表座对光纤面板的第一台阶的端面实现了环形定位,避免了因测量点不同而造成的误差问题,进而提高了光纤面板的第二台阶高度测量的准确性。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出,部分将从下面的描述中变得明显,或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明

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