[实用新型]导电薄膜的振动性能测试装置及测试系统

说明书

本申请提供一种导电薄膜的振动性能测试装置及测试系统，属于导电薄膜的振动性能测试技术领域。该振动性能测试装置包括绝缘盖和导电薄片。导电薄片设置于绝缘盖且用于连接第一电极；绝缘盖被配置成安装用于连接第二电极的导电薄膜时，导电薄片与导电薄膜间隔设置，且能够使导电薄膜振动。该装置中，导电薄膜和导电薄片间隔设置在绝缘盖上以后，将导电薄片电连接第一电极，导电薄膜电连接第二电极，在导电薄膜周围形成磁场，从而使导电薄膜发生振动，然后通过其他的设备，监测薄膜的振动频率以及振幅等，从而检测薄膜的振动性能。

技术领域

本申请涉及导电薄膜的振动性能测试技术领域，具体而言，涉及一种导电薄膜的振动性能测试装置及测试系统。

背景技术

扬声器的振膜是一种薄膜结构，其通常有一些参数，例如：直径、厚度、重量、固有频率、频响特性等，对于某些参数(例如：直径、厚度、重量等)，其可以通过简单的测量方法得到。而对于另一些参数(例如：固有频率、频响特性等)，其需要通过专用的检测设备使振膜振动并进行检测。

实用新型内容

本申请的提供一种导电薄膜的振动性能测试装置及测试系统，导电薄膜容易产生振动，以对其振动性能进行检测。

第一方面，本申请提供一种导电薄膜的振动性能测试装置，包括绝缘盖和导电薄片。导电薄片设置于绝缘盖且用于连接第一电极；绝缘盖被配置成安装用于连接第二电极的导电薄膜时，导电薄片与导电薄膜间隔设置，且能够使导电薄膜振动。

导电薄膜和导电薄片间隔设置在绝缘盖上以后，将导电薄片电连接第一电极，导电薄膜电连接第二电极，在导电薄膜周围形成静电磁场，从而使导电薄膜发生振动，然后通过其他的设备，监测薄膜的振动频率以及振幅等，从而检测薄膜的振动性能。

在一种可行的实施方式中，绝缘盖包括内筒、环形端盖和外筒，导电薄片的周缘设置于内筒，环形端盖的内周缘与内筒连接，环形端盖的外周缘与外筒连接，内筒和外筒之间形成外腔，环形端盖上设置有多个与外腔连通的气孔，且气孔贯穿环形端盖的端面，环形端盖的端面用于放置和负压吸附导电薄膜的周缘。

环形端盖上设置多个与外腔连通的气孔，对外腔抽真空，可以通过负压吸附的方式对导电薄膜的周缘进行固定，不需要通过夹持部件对导电薄膜进行夹持固定，能够在一定程度上避免导电薄膜的损坏。导电薄片固定在内筒上，可以使固定好的导电薄膜和导电薄片基本为两个平行的面，可以使导电薄片的振动效果更佳，以便更加容易测试导电薄膜的振动性能。且测试完毕以后，只需要停止负压吸附，就可以将已经测试的导电薄膜放开，重新负压吸附新的导电薄膜，进行另一片薄膜的振动性能测试，导电薄膜的更换更加方便，以便高效地检测。

在一种可行的实施方式中，内筒具有内腔，导电薄片的周缘固定于内筒的环形端面上，且导电薄膜用于设置于导电薄片的背离内腔的一侧。

导电薄片的背离导电薄膜的一侧为内腔，可以使导电薄片的振动效果更佳；同时，将导电薄片固定在环形端面上，在形成静电磁场的时候，导电薄片的中部产生朝向导电薄膜以及远离导电薄膜的方向振动，而周缘被固定，以便使振动性能的测试结果更加准确。

在一种可行的实施方式中，内筒的环形端面与环形端盖的端面在内筒上的轴向距离为10μm-1m。

可以使导电薄片和吸附固定后的导电薄膜之间的距离为10μm-1m，在此距离范围内，添加较低的电压(100V以上)，就能够使导电薄膜位于磁场范围内产生振动，容易对导电薄膜的振动性能进行测试。

在一种可行的实施方式中，内筒具有第一端和第二端，第一端连接环形端盖，第一端的环形端面与环形端盖的端面在内筒上的轴向距离为10μm-1m，且第一端的环形端面朝向第二端的方向凹陷。

可以形成一个承载导电薄片的凹陷区域，以便对导电薄片进行安装，从而避免导电薄片在垂直于内筒的轴线方向移动。

在一种可行的实施方式中，导电薄片上设置有多个通孔。