[实用新型]高压Z扫描光学测试系统

说明书

本实用新型公开了一种高压Z扫描光学测试系统。所述高压Z扫描光学测试系统包括：光源单元、扩束准直单元、物镜显微单元、第一信号接收单元、高压样品平移单元、第二信号接收单元；其中，所述扩束准直单元与第一信号接收单元分别设置在入射光束的光路上，所述第二信号接收单元设置在出射光束的光路上。本实用新型提供的一种高压Z扫描光学测试系统，可以在测量样品在高压下的非线性光学系数，且该高压Z扫描光学测试系统具有极好的稳定性和准直性。

技术领域

本实用新型涉及一种光学测试系统，特别涉及一种高压Z扫描光学测试系统，属于光学设备技术领域。

背景技术

随着科学技术的不断发展可知，随着压力的增加，物质的物理性质会发生相应的改变。增加物质所受压力，压缩了晶体体积，晶体的分子距离、原子距离变短，之间的相互作用加强，电子轨道重叠增加，电子耦合增强，使晶体发生相变或产生新的物质。将高压技术与吸收光谱、发射光谱、荧光光谱、XRD光谱相结合，研究在高压对相应物质结构、振动的影响，对材料学、凝聚态方向的发展起到了推动作用。

Z扫描技术是一种通过测量获得非线性光学系数的方法。可以通过实验装置的开孔和闭孔得到物质的非线性折射系数和非线性吸收系数。由于其装置和方法较为简单而灵敏性高等优点引起人们的关注。目前的实验技术研究了常压下通过 Z扫描装置对物质的非线性系数，没有将高压结合Z扫描测量非线性光学系数。

实用新型内容

本实用新型的主要目的在于提供一种高压Z扫描光学测试系统，以克服现有技术中的不足。

为实现前述实用新型目的，本实用新型采用的技术方案包括：

本实用新型实施例提供了一种高压Z扫描光学测试系统，包括：

光源单元，至少用于提供对待测样品进行照射的入射光束；

扩束准直单元，至少用于对所述入射光束进行扩束准直以形成平行光束；

物镜显微单元，至少用于将经扩束准直后的平行光束进行会聚并导入高压样品平移单元的高压样品腔内；

第一信号接收单元，至少用于接收并测量经扩束准直后的平行光束的初始激光功率；

高压样品平移单元，至少用于为待测样品提供高压测量环境；

第二信号接收单元，至少用于接收并测量经所述高压样品平移单元的高压样品腔内的待测样品出射的出射光束的出射激光功率，以及，获得所述出射光束的 Z扫描曲线；

其中，所述扩束准直单元与第一信号接收单元分别设置在入射光束的光路上，所述第二信号接收单元设置在出射光束的光路上。

与现有技术相比，本实用新型的优点包括：

1)本实用新型实施例提供的一种高压Z扫描光学测试系统，结构简单，安装和维护方便；

2)本实用新型实施例提供的一种高压Z扫描光学测试系统，可以在测量样品在高压下的非线性光学系数；

3)本实用新型实施例提供的一种高压Z扫描光学测试系统具有极好的稳定性和准直性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本实用新型一典型实施案例中提供的一种高压Z扫描光学测试系统的结构示意图。

具体实施方式

鉴于现有技术中的不足，本案发明人经长期研究和大量实践，得以提出本实用新型的技术方案。如下将对该技术方案、其实施过程及原理等作进一步的解释说明。