[实用新型]一种探针卡多方位调节装置有效

专利信息
申请号: 202120649067.3 申请日: 2021-03-30
公开(公告)号: CN214622767U 公开(公告)日: 2021-11-05
发明(设计)人: 傅智云 申请(专利权)人: 无锡紫电半导体有限公司
主分类号: G01R1/073 分类号: G01R1/073;G01R3/00
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 朱晓林
地址: 214000 江苏省无锡市新吴区新泰路8号江苏国际技术转移中*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 探针 多方位 调节 装置
【说明书】:

实用新型公开了一种探针卡多方位调节装置,其可实现薄膜两个方向旋转,可提高检测效率和检测准确性,其包括底座、安装于底座上的薄膜调节机构、显微镜、探针卡调节机构,探针卡调节机构包括用于放置探针卡的探针卡放置槽,薄膜调节机构包括第一X向移动滑台、安装于第一X向移动滑台的滑块上的r0轴旋转台、安装于r0轴旋转台的Z向移动滑台、安装于Z向移动滑台的滑块上的r1轴旋转台,r0轴旋转台包括Y向转轴、转动安装于Y向转轴的Y向转台、驱动Y向转台旋转的微分头,Z向移动滑台固定于Y向转台的一侧,r1轴旋转台包括第一转轴,第一转轴的一端固接第一旋钮,另一端固接薄膜固定件。

技术领域

本实用新型涉及探针卡检测设备技术领域,具体为一种探针卡多方位调节装置。

背景技术

在探针卡制造过程中,为确保后续使用时每根探针的位置准确,需对探针卡进行贴膜定位操作,薄膜(绝缘耐高温胶片,材质为聚酯薄膜PET)上打印(激光打印)有若干个与探针直径匹配的刻痕(刻痕为用于探针卡上的探针定位的定位点),通过探针与相应的薄膜刻痕对应,实现探针定位,探针及刻痕直径仅有10微米~15微米左右,因此使用显微镜才能观测到探针卡上探针与薄膜刻痕的对应情况。在使用显微镜观测时,需调节探针卡或/和薄膜位置,使探针与薄膜刻痕的位置对应情况能够在显微镜中清楚显示。

目前探针卡位置调整设备的调节方位较少,其一般可实现薄膜的X轴、Z轴方向调整,但仍存在探针卡与薄膜通孔对应不准确的问题,在使用显微镜观测探针与薄膜刻痕对应情况时,需对薄膜进行旋转操作,以便于通过显微镜清楚观测到探针卡探针与薄膜刻痕对应是否准确,从而便于后续对探针卡探针进行调节定位,但目前可实现薄膜多方向旋转的设备较少,严重影响了探针卡检测效率及检测准确性。

实用新型内容

针对现有技术中存在的可实现薄膜多方向旋转的设备较少,影响探针卡检测效率及检测准确性的问题,本实用新型提供了一种探针卡多方位调节装置,其可实现薄膜两个方向旋转,可提高检测效率和检测准确性。

为实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种探针卡多方位调节装置,其包括底座、安装于所述底座上的薄膜调节机构、显微镜、探针卡调节机构,所述探针卡调节机构包括用于放置所述探针卡的探针卡放置槽,所述薄膜调节机构包括用于固定所述薄膜的薄膜固定件、带动所述薄膜固定件移动的薄膜驱动机构,所述薄膜固定件位于所述探针卡放置槽的上方,所述显微镜位于所述薄膜固定件的上方,所述显微镜的镜头依次对应所述薄膜、探针卡,其特征在于,所述薄膜调节机构包括第一X向移动滑台、安装于所述第一X向移动滑台的滑块上的r0轴旋转台、安装于所述r0轴旋转台的Z向移动滑台、安装于所述Z向移动滑台的滑块上的r1轴旋转台,所述第一X向移动滑台的底端与所述底座固接,所述r0轴旋转台包括Y向转轴、转动安装于所述Y向转轴的Y向转台、驱动所述Y向转台旋转的微分头,所述Z向移动滑台固定于所述Y向转台的一侧,所述r1轴旋转台包括第一转轴,所述第一转轴的一端固接第一旋钮,所述第一转轴的另一端固接所述薄膜固定件。

其进一步特征在于,

所述薄膜调节机构包括第一转接板、第二转接板,所述第一转接板为L型,所述第一转接板的底端与所述第一X向移动滑台的滑块固定,所述r0轴旋转台通过所述第二转接板与所述第一转接板的侧端固定;

所述微分头包括左旋微分头、右旋微分头,所述第二转接板包括平面板、固定于所述平面板顶端的连接板、与所述连接板一侧端垂直固定的凹型板,所述Y向转台的顶端固定有连接块,所述连接块的一端与所述Y向转台的外缘面固定,所述连接块的另一端延伸至所述凹型板的凹槽内,所述左旋微分头的转轴、右旋微分头的转轴分别贯穿所述凹型板的两侧端,并分别抵接于所述连接块的两侧;

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